| Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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PDF |
Anglais, Français |
Active |
21/04/2022 |
92,00 € |
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Détails
L'IEC 63284:2022 couvre le protocole d'exécution d'une procédure de contrainte et une méthode d'essai correspondante, en vue d'évaluer la fiabilité des transistors de puissance à base de nitrure de gallium (GaN) par la commutation sur charge inductive, en particulier la contrainte de commutation dure.
Informations supplémentaires
| Auteur | International Electrotechnical Commission (IEC) |
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| Comité | TC 47 |
| Edité par | IEC |
| Type de document | Norme |
| Edition révision n° | 1 |
| ICS | 31.080.30 : Transistors
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| Nombre de pages | 25 |
| Mot-clé | IEC63284,IEC 63284:2022,IEC 63284,TC 47 |
