IEC 62047-35:2019

IEC 62047-35:2019

IEC 62047-35:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 35 : Méthode d’essai des caractéristiques électriques sous déformation par courbure de dispositifs électromécaniques souples

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Détails

L’IEC 62047-35:2019 spécifie la méthode d’essai des caractéristiques électriques sous déformation par courbure de dispositifs électromécaniques souples. Ces dispositifs incluent des microcomposants passifs et/ou des microcomposants actifs situés sur ou intégrés dans le film souple. Typiquement, les dimensions dans le plan souhaitées du dispositif pour la méthode d’essai sont comprises entre 1 mm et 300 mm, et l’épaisseur est comprise entre 10 mm et 1 mm. Ces valeurs ne sont pas limitatives. La méthode d’essai est conçue pour plier les dispositifs de manière quasi statique et monotone, jusqu’à la courbure maximale possible, c’est-à-dire jusqu’à ce que le dispositif soit complètement plié, afin d’obtenir le comportement des propriétés électriques sous dégradation complète, lors d’une déformation par courbure. Le présent document est essentiel pour estimer la marge de sécurité lors d’une certaine déformation par courbure et indispensable pour concevoir de manière fiable des produits qui utilisent ces dispositifs.

Informations supplémentaires

Auteur International Electrotechnical Commission (IEC)
Comité TC 47/SC 47F
Edité par IEC
Type de document Norme
Edition révision n° 1
ICS 31.080.99 : Autres dispositifs à semi-conducteurs
Nombre de pages 41
Mot-clé IEC62047-35,IEC 62047-35:2019,IEC 62047-35,TC 47/SC 47F