IEC 60749-37:2022

IEC 60749-37:2022

IEC 60749-37:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 37: Méthode d'essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d'un accéléromètre

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Détails

IEC 60749-37:2022 est disponible sous forme de IEC 60749-37:2022 RLV qui contient la Norme internationale et sa version Redline, illustrant les modifications du contenu technique depuis l'édition précédente.L’IEC 60749-37:2022 fournit une méthode d’essai destinée à évaluer et comparer la performance de chute des composants électroniques à montage en surface dans des applications de produits électroniques portatifs dans un environnement d’essai accéléré, où une flexion excessive d’une carte de circuit imprimé provoque une défaillance de produit. Le but est de normaliser la carte d'essai et la méthodologie d'essai pour fournir une évaluation reproductible de la performance d'essai de chute des composants à montage en surface, en reproduisant les mêmes modes de défaillances que ceux observés normalement au cours d'un essai au niveau du produit. Cette édition inclut les modifications techniques majeures suivantes par rapport à l'édition précédente:
- correction d’une erreur technique précédente concernant les conditions d’essai,
- mises à jour afin de refléter les progrès technologiques.

Informations supplémentaires

Auteur International Electrotechnical Commission (IEC)
Comité TC 47
Edité par IEC
Type de document Norme
Edition révision n° 2
ICS 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
Nombre de pages 43
Remplace IEC 60749-37:2008
Historique IEC 60749-37:2008
Mot-clé IEC60749-37,IEC 60749-37:2022,IEC 60749-37,TC 47