31.080.99 : Autres dispositifs à semi-conducteurs

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  • DIN EN IEC 60747-16-8:2024-04

    Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters (IEC 60747-16-8:2022), German version EN IEC 60747-16-8:2023
    01/04/2024 - PDF - Allemand - DIN
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    120,84 €

  • DIN EN IEC 60747-16-7:2024-04

    Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators (IEC 60747-16-7:2022), German version EN IEC 60747-16-7:2023
    01/04/2024 - PDF - Allemand - DIN
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    131,96 €

  • 24/30490678 DC:2024

    BS IEC 60747-5-18 Semiconductor devices Part 5-18: Optoelectronic - Light emitting diodes Test method light diodesof the macro photoluminescence for epitaxial wafers of micro
    29/03/2024 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS IEC 62047-43:2024

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical
    22/03/2024 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 62047-43:2024

    IEC 62047-43:2024 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
    19/03/2024 - PDF - Anglais - IEC
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    132,00 €

  • 24/30488515 DC:2024

    BS EN IEC 62047-50. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 50. MEMS capacitive microphone
    05/03/2024 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS IEC 62047-44:2024

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive
    29/02/2024 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 62047-44:2024

    IEC 62047-44:2024 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
    22/02/2024 - PDF - Anglais - IEC
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    132,00 €

  • 24/30486622 DC:2024

    BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics piezoelectric MEMS cantilever
    01/02/2024 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • 23/30481371 DC:2023

    BS EN IEC 62047-4 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 4. Generic specification for MEMS
    20/10/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • 23/30479765 DC:2023

    BS IEC 63512. Test method for continuous-switching evaluation of gallium nitride power conversion devices
    25/09/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS IEC 63229:2021

    Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
    31/08/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    250,00 €

  • 23/30479181 DC:2023

    BS IEC 62047-48. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 48. Test method of determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
    25/08/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS IEC 62830-7:2021

    Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Linear sliding mode triboelectric
    07/07/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    293,00 €

  • 23/30451654 DC:2023

    BS EN IEC 60747-15. Semiconductor devices Part 15. Isolated power semiconductor devices. Discrete
    05/07/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • 23/30476409 DC:2023

    BS IEC 60947-10. Low-voltage switchgear and controlgear Part 10. Semiconductor Circuit-Breakers
    05/07/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    43,00 €

  • BS EN IEC 60747-16-7:2022

    Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Attenuators
    25/05/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    331,00 €

  • BS EN IEC 60747-16-8:2022

    Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Limiters
    25/05/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    293,00 €

  • BS EN IEC 63287-2:2023

    Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
    23/05/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • PR NF EN IEC 60747-16-9, C96-016-9PR (05/2023)

    Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-9 : circuits intégrés hyperfréquences - Déphaseurs
    01/05/2023 - Papier - Anglais, Français - AFNOR
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    115,50 €

  • 23/30454366 DC:2023

    BS EN IEC 62047-45. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 45. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of impact resistance nanostructures
    20/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • 23/30454374 DC:2023

    BS EN IEC 62047-47. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 47. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength microstructures
    20/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • 23/30454370 DC:2023

    BS EN IEC 62047-46. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 46. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of tensile strength nanoscale membrane
    19/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS IEC 63150-1:2019

    Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Arbitrary random mechanical vibrations
    13/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    293,00 €

  • BS IEC 62047-37:2020

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
    05/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 60747-5-16:2023

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage GaN-based light diodes based on photocurrent spectroscopy
    05/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 60747-5-16:2023

    IEC 60747-5-16:2023 Semiconductor devices - Part 5-16: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage of GaN-based light emitting diodes based on the photocurrent spectroscopy
    28/03/2023 - PDF - Anglais - IEC
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    132,00 €

  • BS IEC 60747-18-4:2023

    Semiconductor devices bio sensors. Evaluation method of noise characteristics lens-free CMOS photonic array sensors
    27/03/2023 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 60747-18-5:2023

    Semiconductor devices bio sensors. Evaluation method for light responsivity characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules by incident angle
    23/03/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 60747-18-4:2023

    IEC 60747-18-4:2023 Semiconductor devices - Part 18-4: Semiconductor bio sensors - Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
    16/03/2023 - PDF - Anglais - IEC
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    92,00 €

  • IEC 60747-18-5:2023

    IEC 60747-18-5:2023 Semiconductor devices - Part 18-5: Semiconductor bio sensors - Evaluation method for light responsivity characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules by incident angle of light
    16/03/2023 - PDF - Anglais - IEC
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    92,00 €

  • BS EN IEC 63364-1:2022

    Semiconductor devices. devices for IoT system Test method of sound variation detection
    02/02/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • DIN EN IEC 63203-402-3:2023-02

    Wearable electronic devices and technologies - Part 402-3: Performance measurement method of wearables - Series 2: Accuracy of Heart Rate Determination (IEC 124/167/CD:2021), Text in German and English
    01/02/2023 - PDF - Anglais, Allemand - DIN
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    92,62 €

  • BS IEC 62951-8:2023

    Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for stretchability, flexibility, stability of flexible resistive memory
    24/01/2023 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • IEC 62951-8:2023

    IEC 62951-8:2023 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
    19/01/2023 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    92,00 €

  • NF EN IEC 60747-16-7, C96-016-7 (01/2023)

    Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-7 : circuits intégrés hyperfréquences - Atténuateurs
    01/01/2023 - Papier - Français - AFNOR
    En savoir plus
    141,33 €

  • NF EN IEC 60747-16-8, C96-016-8 (01/2023)

    Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-8 : circuits intégrés hyperfréquences - Limiteurs
    01/01/2023 - Papier - Français - AFNOR
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    127,67 €

  • BS IEC 62951-9:2022

    Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor resistor (1T1R) resistive memory cells
    20/12/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • IEC 63364-1:2022

    IEC 63364-1:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour système IDO - Partie 1: Méthode d’essai de détection de variation acoustique
    14/12/2022 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    92,00 €

  • IEC 62951-9:2022

    IEC 62951-9:2022 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
    14/12/2022 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    132,00 €

  • IEC 60747-16-7:2022

    IEC 60747-16-7:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-7: Circuits intégrés hyperfréquences - Atténuateurs
    29/11/2022 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    311,00 €

  • IEC 60747-16-8:2022

    IEC 60747-16-8:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-8: Circuits intégrés hyperfréquences - Limiteurs
    29/11/2022 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    270,00 €

  • BS IEC 63284:2022

    Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
    11/11/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 62047-42:2022

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics piezoelectric MEMS cantilever
    24/10/2022 - PDF - Anglais - BSI
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    250,00 €

  • UNE-EN IEC 60747-16-7:2023

    Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2023.)
    12/10/2022 - PDF - Anglais - AENOR
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    81,00 €

  • UNE-EN IEC 60747-16-8:2023

    Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2023.)
    12/10/2022 - PDF - Anglais - AENOR
    En savoir plus
    76,00 €

  • UNE-EN IEC 63364-1:2023

    Semiconductor devices - Semiconductor devices for IOT system - Part 1: Test method of sound variation detection (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2023.)
    12/10/2022 - PDF - Anglais - AENOR
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    60,00 €

  • IEC TR 63357:2022

    IEC TR 63357:2022 Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles
    11/10/2022 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    92,00 €

  • UNE-EN IEC 62031:2020/A11:2022

    LED modules for general lighting - Safety specifications
    28/09/2022 - PDF - Espagnol - AENOR
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    34,00 €

  • UNE-EN IEC 62031:2020/A11:2022

    LED modules for general lighting - Safety specifications
    28/09/2022 - PDF - Anglais - AENOR
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    40,80 €

  • IEC 62047-42:2022

    IEC 62047-42:2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
    16/09/2022 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    173,00 €

  • BS IEC 63068-4:2022

    Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Procedure identifying and evaluating using a combined method optical inspection photoluminescence
    07/09/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    250,00 €

  • IEC 63068-4:2022

    IEC 63068-4:2022 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
    27/07/2022 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    173,00 €

  • BS IEC 60747-5-15:2022

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on electroreflectance spectroscopy
    19/07/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS EN IEC 63373:2022

    Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices
    17/06/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • DIN EN IEC 60747-16-9:2022-06

    Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters (IEC 47E/768/CD:2021), Text in German and English
    01/06/2022 - PDF - Anglais, Allemand - DIN
    En savoir plus
    131,96 €

  • 22/30430766 DC:2022

    BS EN 60947-10. Low-voltage switchgear and controlgear Part 10. Semiconductor Circuit-Breakers
    05/05/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    43,00 €

  • UNE-EN IEC 63373:2022

    Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2022.)
    01/05/2022 - PDF - Anglais - AENOR
    En savoir plus
    64,00 €

  • BS EN IEC 62031:2020+A11:2021

    LED modules for general lighting. Safety specifications
    31/03/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    250,00 €

  • IEC 60747-5-14:2022

    IEC 60747-5-14:2022 Semiconductor devices - Part 5-14: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the surface temperature based on the thermoreflectance method
    04/03/2022 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    173,00 €

  • 22/30437195 DC:2022

    BS IEC 62047-43. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 43. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible electro-mechanical
    11/02/2022 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    24,00 €

  • IEC 63373:2022

    IEC 63373:2022 Lignes directrices pour les méthodes d’essai de résistance dynamique à l’état passant des dispositifs de conversion de puissance fondés sur les HEMT en GaN
    10/02/2022 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    92,00 €

  • IEC 60747-5-15:2022

    IEC 60747-5-15:2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
    07/01/2022 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    92,00 €

  • 21/30440970 DC:2021

    BS EN IEC 60747-5-16. Semiconductor devices Part 5-16. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on photocurrent spectroscopy
    07/12/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    24,00 €

  • UNE-EN IEC 63244-1:2021

    Semiconductor devices - Semiconductor devices for wireless power transfer and charging - Part 1: General requirements and specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2021.)
    01/12/2021 - PDF - Anglais - AENOR
    En savoir plus
    76,00 €

  • PD IEC TR 60747-5-12:2021

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of LED efficiencies
    19/11/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    377,00 €

  • BS EN IEC 63244-1:2021

    Semiconductor devices. devices for wireless power transfer and charging General requirements specifications
    05/11/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    293,00 €

  • BS IEC 62830-8:2021

    Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Test evaluation methods of flexible stretchable supercapacitors use in low power electronics
    04/11/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    293,00 €

  • IEC 62830-8:2021

    IEC 62830-8:2021 Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 8: Test and evaluation methods of flexible and stretchable supercapacitors for use in low power electronics
    22/10/2021 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    270,00 €

  • IEC TR 60747-5-12:2021

    IEC TR 60747-5-12:2021 Semiconductor devices - Part 5-12: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of LED efficiencies
    13/10/2021 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    397,00 €

  • BS IEC 62047-40:2021

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
    14/09/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    151,00 €

  • IEC 63244-1:2021

    IEC 63244-1:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour le transfert de puissance et la charge sans fil - Partie 1: Exigences et spécifications générales
    14/09/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    270,00 €

  • 21/30436870 DC:2021

    BS IEC 60747-16-9. Semiconductor devices Part 16-9. Microwave integrated circuits. Phase shifters
    03/09/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    24,00 €

  • IEC 62047-40:2021

    IEC 62047-40:2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
    03/09/2021 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    46,00 €

  • DIN EN IEC 60747-16-6:2021-08

    Semiconductor devices - Part 16-6: Microwave integrated circuits - Frequency multipliers (IEC 60747-16-6:2019), German version EN IEC 60747-16-6:2019
    01/08/2021 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    110,00 €

  • DIN EN 60747-16-5:2021-08

    Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020), German version EN 60747-16-5:2013 + A1:2020.
    01/08/2021 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    131,96 €

  • 21/30439037 DC:2021

    BS IEC 63150-2. Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Part 2. Human arm swing motion
    09/07/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    24,00 €

  • BS IEC 62047-38:2021

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection
    07/07/2021 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 60747-5-6:2021

    IEC 60747-5-6:2021 Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
    06/07/2021 - PDF - Anglais - IEC
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    431,00 €

  • IEC 60747-5-6:2021 + Redline

    IEC 60747-5-6:2021 (Redline version) Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
    06/07/2021 - PDF - Anglais - IEC
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    561,00 €

  • PD IEC TS 60747-19-2:2021

    Semiconductor devices Smart sensors. Indication of specifications sensors and power supplies to drive smart for low operation
    02/07/2021 - PDF - Anglais - BSI
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    250,00 €

  • BS IEC 60747-5-13:2021

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
    28/06/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 62047-41:2021

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices RF MEMS circulators and isolators
    28/06/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    293,00 €

  • IEC 62047-38:2021

    IEC 62047-38:2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection
    23/06/2021 - PDF - Anglais - IEC
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    92,00 €

  • IEC 62047-41:2021

    IEC 62047-41:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs à MEMS RF
    15/06/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    270,00 €

  • IEC 60747-5-13:2021

    IEC 60747-5-13:2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
    15/06/2021 - PDF - Anglais - IEC
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    132,00 €

  • IEC TS 60747-19-2:2021

    IEC TS 60747-19-2:2021 Semiconductor devices - Part 19-2: Smart sensors - Indication of specifications of sensors and power supplies to drive smart sensors for low power operation
    21/05/2021 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    132,00 €

  • BS IEC 62047-35:2019

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electromechanical
    20/04/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    250,00 €

  • IEC 63229:2021

    IEC 63229:2021 Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
    07/04/2021 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    173,00 €

  • IEC 62830-7:2021

    IEC 62830-7:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour récupération et génération d’énergie - Partie 7: Récupération d’énergie triboélectrique en mode de coulissement linéaire
    03/03/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    270,00 €

  • UNE-EN IEC 60747-17:2020/AC:2021-02

    Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2021.)
    01/03/2021 - PDF - Anglais - AENOR
    En savoir plus
    0,00 €

  • BS IEC 62830-5:2021

    Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Test method measuring generated power from flexible thermoelectric
    03/02/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS EN IEC 60747-17:2020

    Semiconductor devices Magnetic and capacitive coupler for basic reinforced insulation
    03/02/2021 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    348,00 €

  • IEC 62830-5:2021

    IEC 62830-5:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour récupération et production d'énergie - Partie 5: Méthode d’essai pour la mesure de la puissance générée par des dispositifs thermoélectriques souples
    21/01/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    92,00 €

  • UNE-EN IEC 60747-17:2020

    Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2021.)
    01/01/2021 - PDF - Anglais - AENOR
    En savoir plus
    95,00 €

  • NF EN IEC 60747-17, C96-047 (11/2020)

    Dispositifs à semiconducteurs - Partie 17 : coupleur magnétique et capacitif pour l'isolation principale et renforcée
    01/11/2020 - Papier - Français - AFNOR
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    153,67 €

  • BS EN IEC 60904-4:2020

    Photovoltaic devices Reference solar devices. Procedures for establishing calibration traceability
    19/10/2020 - PDF - Anglais - BSI
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    293,00 €

  • UNE-EN IEC 62384:2020

    DC or AC supplied electronic controlgear for LED modules - Performance requirements
    07/10/2020 - PDF - Espagnol - AENOR
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    68,00 €

  • UNE-EN IEC 62384:2020

    DC or AC supplied electronic controlgear for LED modules - Performance requirements
    07/10/2020 - PDF - Anglais - AENOR
    En savoir plus
    81,60 €

  • UNE-EN IEC 60747-5-5:2020

    Semiconductor devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.)
    01/10/2020 - PDF - Anglais - AENOR
    En savoir plus
    96,00 €

  • UNE-EN 60747-16-5:2013/A1:2020

    Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.)
    01/10/2020 - PDF - Anglais - AENOR
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    46,00 €

  • BS EN 60747-16-5:2013+A1:2020

    Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Oscillators
    24/09/2020 - PDF - Anglais - BSI
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    331,00 €

  • IEC 60747-17:2020

    IEC 60747-17:2020 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 17 : Coupleur magnétique et capacitif pour l’isolation principale et renforcée
    21/09/2020 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    345,00 €

  • IEC 60747-17:2020

    IEC 60747-17:2020 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 17 : Coupleur magnétique et capacitif pour l’isolation principale et renforcée
    21/09/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    345,00 €

  • NF EN 60747-16-5/A1, C96-016-5/A1 (09/2020)

    Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-5 : circuits intégrés hyperfréquences - Oscillateurs
    01/09/2020 - Papier - Français - AFNOR
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    54,67 €

  • 20/30422991 DC:2020

    BS EN IEC 60747-5-14. Semiconductor devices Part 5-14. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the surface temperature based on thermoreflectance
    28/08/2020 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS IEC 63068-3:2020

    Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Test method using photoluminescence
    24/07/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    250,00 €

  • BS IEC 62047-27:2017

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT)
    22/07/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 62047-28:2017

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Performance testing method of vibration-driven MEMS electret energy harvesting
    22/07/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 62830-1:2017

    Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Vibration based piezoelectric
    21/07/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    250,00 €

  • IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020

    IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-5: Circuits intégrés hyperfréquences - Oscillateurs
    14/07/2020 - PDF - Anglais - IEC
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    23,00 €

  • IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 Edition 1.1

    IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 (Version consolidée) Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-5: Circuits intégrés hyperfréquences - Oscillateurs
    14/07/2020 - PDF - Anglais - IEC
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    443,00 €

  • IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020

    IEC 60747-16-5:2013/AMD1:2020 Amendement 1 - Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-5: Circuits intégrés hyperfréquences - Oscillateurs
    14/07/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    23,00 €

  • IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 Edition 1.1

    IEC 60747-16-5:2013+AMD1:2020 (Version consolidée) Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-5: Circuits intégrés hyperfréquences - Oscillateurs
    14/07/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
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    443,00 €

  • BS EN IEC 62384:2020

    DC or AC supplied electronic controlgear for LED modules. Performance requirements
    13/07/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • IEC 63068-3:2020

    IEC 63068-3:2020 Dispositifs à semiconducteurs - Critères de reconnaissance non destructifs des défauts au sein d’une plaquette homoépitaxiale de carbure de silicium pour des dispositifs d’alimentation - Partie 3 : Méthode d’essai pour les défauts à l’aide de la photoluminescence
    13/07/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
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    219,00 €

  • UNE-EN IEC 62031:2020

    LED modules for general lighting - Safety specifications
    24/06/2020 - PDF - Espagnol - AENOR
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    73,00 €

  • UNE-EN IEC 62031:2020

    LED modules for general lighting - Safety specifications
    24/06/2020 - PDF - Anglais - AENOR
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    87,60 €

  • IEC 62384:2020

    IEC 62384:2020 Appareillages électroniques alimentés en courant continu ou alternatif pour modules de LED - Exigences de performances
    13/05/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
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    92,00 €

  • IEC 62384:2020 + Redline

    IEC 62384:2020 (Redline version) DC or AC supplied electronic controlgear for LED modules - Performance requirements
    13/05/2020 - PDF - Anglais - IEC
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    120,00 €

  • IEC 62047-37:2020

    IEC 62047-37:2020 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 37: Méthodes d’essai d’environnement des couches minces piézoélectriques MEMS pour les applications de type capteur
    28/04/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
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    132,00 €

  • 20/30406234 DC:2020

    BS IEC 63275-2 Ed.1.0. Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Part 2. Test bipolar degradation by body diode operating
    01/04/2020 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS EN IEC 62031:2020

    LED modules for general lighting. Safety specifications
    19/03/2020 - PDF - Anglais - BSI
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    250,00 €

  • BS IEC 60747-18-3:2019

    Semiconductor devices bio sensors. Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system
    14/01/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    250,00 €

  • BS IEC 60747-5-11:2019

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of radiative and nonradiative currents light diodes
    14/01/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 60747-5-10:2019

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on room-temperature reference point
    14/01/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • BS IEC 60747-5-9:2019

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the internal quantum efficiency based on temperature-dependent electroluminescence
    14/01/2020 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    180,00 €

  • IEC 60747-5-10:2019

    IEC 60747-5-10:2019 Semiconductor devices - Part 5-10: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the room-temperature reference point
    11/12/2019 - PDF - Anglais - IEC
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    92,00 €

  • IEC 60747-5-9:2019

    IEC 60747-5-9:2019 Semiconductor devices - Part 5-9: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the internal quantum efficiency based on the temperature-dependent electroluminescence
    11/12/2019 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    132,00 €

  • IEC 60747-5-11:2019

    IEC 60747-5-11:2019 Semiconductor devices - Part 5-11: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of radiative and nonradiative currents of light emitting diodes
    11/12/2019 - PDF - Anglais - IEC
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    92,00 €

  • IEC 60747-18-3:2019

    IEC 60747-18-3:2019 Semiconductor devices - Part 18-3: Semiconductor bio sensors - Fluid flow characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules with fluidic system
    11/12/2019 - PDF - Anglais - IEC
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    173,00 €

  • BS IEC 60747-19-1:2019

    Semiconductor devices Smart sensors. Control scheme of smart sensors
    29/11/2019 - PDF - Anglais - BSI
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    250,00 €

  • BS IEC 60747-5-8:2019

    Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of optoelectronic efficiencies light diodes
    27/11/2019 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 62047-35:2019

    IEC 62047-35:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 35 : Méthode d’essai des caractéristiques électriques sous déformation par courbure de dispositifs électromécaniques souples
    22/11/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
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  • IEC 60747-19-1:2019

    IEC 60747-19-1:2019 Semiconductor devices - Part 19-1: Smart sensors - Control scheme of smart sensors
    22/11/2019 - PDF - Anglais - IEC
    En savoir plus
    173,00 €

  • IEC 60747-5-8:2019

    IEC 60747-5-8:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 5-8 : Dispositifs optoélectroniques - Diodes électroluminescentes - Méthode d’essai des efficacités optoélectroniques des diodes électroluminescentes
    13/11/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    132,00 €

  • 19/30404655 DC:2019

    BS EN IEC 63229. Semiconductor devices. The classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
    17/10/2019 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • IEC 60050-523:2018/AMD1:2019

    IEC 60050-523:2018/AMD1:2019 Amendment 1 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 523: Micro-electromechanical systems (MEMS)
    17/10/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
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    12,00 €

  • UNE-EN IEC 60747-16-6:2019

    Semiconductor devices - Part 16-6: Microwave integrated circuits - Frequency multipliers (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2019.)
    01/10/2019 - PDF - Anglais - AENOR
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    72,00 €

  • BS EN IEC 60747-16-6:2019

    Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Frequency multipliers
    02/09/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • BS IEC 62830-6:2019

    Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Test evaluation methods vertical contact mode triboelectric
    07/08/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • NF EN IEC 60747-16-6, C96-016-6 (08/2019)

    Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-6 : circuits intégrés hyperfréquences - Multiplicateurs de fréquence
    01/08/2019 - Papier - Français - AFNOR
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  • IEC 62830-6:2019

    IEC 62830-6:2019 Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 6: Test and evaluation methods for vertical contact mode triboelectric energy harvesting devices
    25/07/2019 - PDF - Anglais - IEC
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    173,00 €

  • IEC 60747-16-6:2019

    IEC 60747-16-6:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-6: Circuits intégrés hyperfréquences – Multiplicateurs de fréquence
    26/06/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
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  • BS IEC 60747-18-1:2019

    Semiconductor devices bio sensors. Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
    07/06/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • IEC 60747-18-1:2019

    IEC 60747-18-1:2019 Semiconductor devices - Part 18-1: Semiconductor bio sensors - Test method and data analysis for calibration of lens-free CMOS photonic array sensors
    20/05/2019 - PDF - Anglais - IEC
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  • BS IEC 62951-6:2019

    Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for sheet resistance of flexible conducting films
    15/05/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • BS IEC 63068-1:2019

    Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Classification
    10/05/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • IEC 63150-1:2019

    IEC 63150-1:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes de mesure et d’évaluation des dispositifs de captage d’énergie cinétique dans un environnement de vibrations concret - Partie 1: Vibrations mécaniques arbitraires et aléatoires
    10/05/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
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  • IEC 62951-6:2019

    IEC 62951-6:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 6: Méthode d’essai pour la résistance de couche des couches conductrices souples
    06/05/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
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  • BS IEC 62951-2:2019

    Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing, threshold voltage of flexible
    30/04/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • BS IEC 62047-36:2019

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
    24/04/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • BS IEC 62047-33:2019

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
    18/04/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • BS IEC 62047-31:2019

    Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Four-point bending test method for interfacial adhesion energy of layered MEMS materials
    17/04/2019 - PDF - Anglais - BSI
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  • IEC 62951-2:2019

    IEC 62951-2:2019 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs souples et extensibles - Partie 2 : Méthode d’évaluation pour la mobilité des électrons, la pente en régime de sous-seuil et la tension de seuil des dispositifs souples
    17/04/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
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  • 18/30383935 DC:2018

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  • UNE-EN IEC 62969-4:2018

    Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 4: Evaluation method of data interface for automotive vehicle sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2018.)
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    Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 3: Shock driven piezoelectric energy harvesting for automotive vehicle sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2018.)
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  • BS EN IEC 62969-3:2018

    Semiconductor devices. interface for automotive vehicles Shock driven piezoelectric energy harvesting vehicle sensors
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    IEC 62969-4:2018 Dispositifs à semiconducteurs – Interface à semiconducteurs pour les véhicules automobiles - Partie 4: Méthode d'évaluation de l'interface de données destinée aux capteurs de véhicules automobiles
    18/06/2018 - PDF - Anglais, Français - IEC
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    Semiconductor devices - Semiconductor interface for automotive vehicles - Part 2: Efficiency evaluation methods of wireless power transmission using resonance for automotive vehicles sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2018.)
    01/06/2018 - PDF - Anglais - AENOR
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  • IEC 62969-3:2018

    IEC 62969-3:2018 Dispositifs à semiconducteurs – Interface à semiconducteurs pour les véhicules automobiles – Partie 3 : Récupération de l’énergie piézoélectrique produite par les chocs pour les capteurs de véhicules automobiles
    07/05/2018 - PDF - Anglais, Français - IEC
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    10/04/2018 - PDF - Anglais - BSI
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    01/04/2018 - PDF - Allemand - DIN
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    01/04/2018 - PDF - Allemand - DIN
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  • BS EN 60747-16-4:2004+A2:2017

    Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Switches
    16/03/2018 - PDF - Anglais - BSI
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  • UNE-EN IEC 62969-1:2018

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    01/03/2018 - PDF - Anglais - AENOR
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  • BS EN 60747-16-3:2002+A2:2017

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    23/02/2018 - PDF - Anglais - BSI
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  • BS EN IEC 62969-1:2018

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    22/02/2018 - PDF - Anglais - BSI
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  • UNE-EN 60747-16-3:2002/A2:2017

    Semiconductor devices - Part 16-3: Microwave integrated circuits - Frequency converters (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2018.)
    01/01/2018 - PDF - Anglais - AENOR
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