31.140 : Dispositifs piézo-électriques
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BS EN IEC 60444-11. Measurement of quartz crystal unit parameters Part 11. Standard method for the determination load resonance frequency fL and effective capacitance CLeff using automatic network analyzer techniques error correction
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DIN EN IEC 62604-1:2024-03
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (IEC 62604-1:2022), German version EN IEC 62604-1:2022.
01/03/2024 - PDF - Allemand - DIN
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18/12/2023 - PDF - Anglais - BSI
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Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC 60444-6:2021), German version EN IEC 60444-6:2021.
01/11/2023 - PDF - Allemand - DIN
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IEC TS 61994-5:2023 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 5: Piezoelectric sensors
15/09/2023 - PDF - Anglais - IEC
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IEC TS 61994-5:2023 + Redline
IEC TS 61994-5:2023 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 5: Piezoelectric sensors
15/09/2023 - PDF - Anglais - IEC
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Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (IEC 49/1401/CD:2022), Text in German and English
01/05/2023 - PDF - Anglais, Allemand - DIN
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BS EN IEC 60122-2. Quartz crystal units of assessed quality Part 2. Guide to the use
12/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
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Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
05/04/2023 - PDF - Anglais - BSI
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Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications (IEC 63041-1:2021), German version EN IEC 63041-1:2021.
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30/01/2023 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus24,00 € -
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Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Generic specification
23/01/2023 - PDF - Anglais - BSI
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Tracked Changes. Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
01/12/2022 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus382,00 € -
BS EN IEC 62604-1:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Generic specification
11/11/2022 - PDF - Anglais - BSI
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BS EN IEC 62604-2:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk (BAW) duplexers of assessed quality Guidelines for the use
31/10/2022 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus293,00 € -
UNE-EN IEC 62604-1:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2022.)
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UNE-EN IEC 62604-2:2022
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2022.)
12/10/2022 - PDF - Anglais - AENOR
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Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2 : Lignes directrices d'utilisation
01/10/2022 - Papier - Français - AFNOR
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IEC 62604-2:2022
IEC 62604-2:2022 Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2 : Lignes directrices d’utilisation
01/09/2022 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus219,00 € -
NF EN IEC 62604-1, C93-604-1 (09/2022)
Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1 : Spécification générique
01/09/2022 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus116,33 € -
IEC 62604-2:2022 + Redline
IEC 62604-2:2022 (Redline version) Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use
01/09/2022 - PDF - Anglais - IEC
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IEC 62604-1:2022
IEC 62604-1:2022 Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
11/07/2022 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus270,00 € -
IEC 62604-1:2022 + Redline
IEC 62604-1:2022 (Redline version) Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification
11/07/2022 - PDF - Anglais - IEC
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BS EN IEC 60444-6:2021 + Redline
Tracked Changes. Measurement of quartz crystal unit parameters drive level dependence (DLD)
18/05/2022 - PDF - Anglais - BSI
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BS EN IEC 63041-1:2021 + Redline
Tracked Changes. Piezoelectric sensors Generic specifications
08/02/2022 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus382,00 € -
UNE-EN IEC 63041-1:2021
Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2021.)
01/12/2021 - PDF - Anglais - AENOR
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293,00 €
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BS EN IEC 60444-6:2021
Measurement of quartz crystal unit parameters drive level dependence (DLD)
05/11/2021 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
UNE-EN IEC 60444-6:2021
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2021.)
01/11/2021 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus70,00 € -
NF EN IEC 60444-6, C93-621-6 (10/2021)
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 6 : mesure de la dépendance du niveau d'excitation (DNE)
01/10/2021 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,33 € -
NF EN IEC 63041-1, C93-041-1 (10/2021)
Capteurs piézoélectriques - Partie 1 : spécifications génériques
01/10/2021 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus116,33 € -
IEC 63041-1:2021
IEC 63041-1:2021 Capteurs piézoélectriques - Partie 1: Spécifications génériques
17/09/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus219,00 € -
IEC 63041-1:2021 + Redline
IEC 63041-1:2021 (Redline version) Piezoelectric sensors - Part 1: Generic specifications
17/09/2021 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus284,00 € -
IEC 60444-6:2021
IEC 60444-6:2021 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 6: Mesure de la dépendance du niveau d’excitation (DNE)
01/09/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus173,00 € -
IEC 60444-6:2021 + Redline
IEC 60444-6:2021 (Redline version) Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD)
01/09/2021 - PDF - Anglais - IEC
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IEC 60050-561:2014/AMD4:2021
IEC 60050-561:2014/AMD4:2021 Amendment 4 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
09/08/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
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DIN EN IEC 63155:2021-07
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications (IEC 63155:2020), German version EN IEC 63155:2020
01/07/2021 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus99,35 € -
DIN EN IEC 63041-3:2021-07
Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors (IEC 63041-3:2020), German version EN IEC 63041-3:2020
01/07/2021 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus85,79 € -
DIN EN IEC 62604-2:2021-06
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (IEC 49/1353/CD:2020), Text in English
01/06/2021 - PDF - Anglais - DIN
En savoir plus104,95 € -
IEC 60050-561:2014/AMD3:2021
IEC 60050-561:2014/AMD3:2021 Amendment 3 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
29/03/2021 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus12,00 € -
PD IEC TS 61994-3:2021
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary oscillators
09/02/2021 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus180,00 € -
IEC TS 61994-3:2021
IEC TS 61994-3:2021 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 3: Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators
28/01/2021 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus132,00 € -
UNE-EN IEC 61837-2:2018/A1:2020
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2021.)
01/01/2021 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus72,00 € -
BS EN IEC 61837-2:2018+A1:2020
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection. Standard outlines terminal lead connections Ceramic enclosures
13/11/2020 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus398,00 € -
NF EN IEC 61837-2/A1, C93-628-2/A1 (11/2020)
Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2 : enveloppes en céramique
01/11/2020 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,33 € -
UNE-EN IEC 63041-3:2020
Piezoelectric sensors - Part 3: Physical sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2020.)
01/11/2020 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus64,00 € -
180,00 €
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IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 Edition 3.1
IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 (Version consolidée) Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique
24/09/2020 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus794,00 € -
IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 Edition 3.1
IEC 61837-2:2018+AMD1:2020 (Version consolidée) Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique
24/09/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus794,00 € -
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020 Amendment 1 - Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
24/09/2020 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus173,00 € -
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020
IEC 61837-2:2018/AMD1:2020 Amendment 1 - Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures
24/09/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus173,00 € -
NF EN IEC 63041-3, C93-041-3 (09/2020)
Capteurs piézoélectriques - Partie 3 : capteurs physiques
01/09/2020 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus88,33 € -
IEC 63041-3:2020
IEC 63041-3:2020 Capteurs piézoélectriques - Partie 3 : Capteurs physiques
12/08/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus92,00 € -
UNE-EN IEC 63155:2020
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in July of 2020.)
01/07/2020 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus69,00 € -
BS EN IEC 63155:2020
Guidelines for the measurement method of power durability for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) applications
25/06/2020 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
NF EN IEC 63155, C93-155 (06/2020)
Lignes directrices relatives à la méthode de mesure de la durabilité de puissance des appareils à ondes acoustiques de surface (OAS) et des appareils à ondes acoustiques de volume (OAV) dans les applications de radiofréquence (RF)
01/06/2020 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,33 € -
IEC 60050-561:2014/AMD2:2020
IEC 60050-561:2014/AMD2:2020 Amendment 2 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
27/05/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus12,00 € -
IEC 62047-37:2020
IEC 62047-37:2020 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 37: Méthodes d’essai d’environnement des couches minces piézoélectriques MEMS pour les applications de type capteur
28/04/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus132,00 € -
IEC 63155:2020
IEC 63155:2020 Lignes directrices relatives à la méthode de mesure de la durabilité de puissance des appareils à ondes acoustiques de surface (OAS) et des appareils à ondes acoustiques de volume (OAV) dans les applications de radiofréquence (RF)
24/04/2020 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus173,00 € -
PD IEC TS 61994-4-1:2018 + Redline
Tracked Changes. Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Synthetic quartz crystal
27/02/2020 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus197,00 € -
PD IEC TS 61994-4-4:2018 + Redline
Tracked Changes. Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Single crystal wafers surface acoustic wave (SAW)
27/02/2020 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus235,00 € -
BS EN 60758:2016 + Redline
Tracked Changes. Synthetic quartz crystal. Specifications and guidelines for use
26/02/2020 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus454,00 € -
BS EN 60793-1-33:2017 + Redline
Tracked Changes. Optical fibres Measurement methods and test procedures - Stress corrosion susceptibility
25/02/2020 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus432,00 € -
DIN EN IEC 62884-4:2020-02
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4: Short-term frequency stability test methods (IEC 62884-4:2019), German version EN IEC 62884-4:2019
01/02/2020 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus104,95 € -
DIN EN IEC 60122-4:2019-10
Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (IEC 60122-4:2019), German version EN IEC 60122-4:2019
01/10/2019 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus92,62 € -
UNE-EN IEC 62884-4:2019
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 4 : Short-term frequency stability test methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2019.)
01/08/2019 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus69,00 € -
PD IEC TS 61994-5:2019
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric sensors
17/07/2019 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus151,00 € -
BS EN IEC 62884-4:2019
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Short-term frequency stability test methods
15/07/2019 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
NF EN IEC 62884-4, C93-684-4 (07/2019)
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 4 : méthodes d'essai de stabilité à court-terme de la fréquence
01/07/2019 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus88,33 € -
IEC 62884-4:2019
IEC 62884-4:2019 Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 4: Méthodes d'essai de stabilité à court-terme de la fréquence
06/05/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus132,00 € -
UNE-EN IEC 60122-4:2019
Quartz crystal units of assessed quality - Part 4: Crystal units with thermistors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2019.)
01/05/2019 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus64,00 € -
BS IEC 62047-36:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
24/04/2019 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus180,00 € -
BS IEC 62047-33:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
18/04/2019 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
BS IEC 62047-34:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
16/04/2019 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus180,00 € -
IEC 62047-33:2019
IEC 62047-33:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 33: MEMS piezoresistive pressure-sensitive device
05/04/2019 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus173,00 € -
IEC 62047-34:2019
IEC 62047-34:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 34: Test methods for MEMS piezoresistive pressure-sensitive device on wafer
05/04/2019 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus92,00 € -
IEC 62047-36:2019
IEC 62047-36:2019 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 36: Environmental and dielectric withstand test methods for MEMS piezoelectric thin films
05/04/2019 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus92,00 € -
BS EN IEC 60122-4:2019
Quartz crystal units of assessed quality Crystal with thermistors
28/03/2019 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus180,00 € -
NF EN IEC 60122-4, C93-618-4 (03/2019)
Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité Partie 4 : résonateurs à quartz équipés de thermistances
01/03/2019 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus88,33 € -
IEC 60122-4:2019
IEC 60122-4:2019 Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 4: Résonateurs à quartz équipés de thermistances
24/01/2019 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus92,00 € -
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BS EN IEC 62047-37. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 37. Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
04/12/2018 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus24,00 € -
PD IEC TS 61994-4-1:2018
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Synthetic quartz crystal
22/11/2018 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus151,00 € -
PD IEC TS 61994-4-4:2018
Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices associated materials for frequency control, selection detection. Glossary Piezoelectric materials. Single crystal wafers surface acoustic wave (SAW)
22/11/2018 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus180,00 € -
IEC TS 61994-4-4:2018
IEC TS 61994-4-4:2018 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-4: Piezoelectric materials - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices
16/11/2018 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus92,00 € -
IEC TS 61994-4-1:2018
IEC TS 61994-4-1:2018 Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-1: Piezoelectric materials - Synthetic quartz crystal
16/11/2018 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus46,00 € -
IEC TS 61994-4-1:2018 + Redline
IEC TS 61994-4-1:2018 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-1: Piezoelectric materials - Synthetic quartz crystal
16/11/2018 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus60,00 € -
IEC TS 61994-4-4:2018 + Redline
IEC TS 61994-4-4:2018 (Redline version) Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection - Glossary - Part 4-4: Piezoelectric materials - Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) devices
16/11/2018 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus120,00 € -
DIN EN IEC 62884-3:2018-10
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 3: Méthodes d'essai de vieillissement en fréquence (IEC 62884-3:2018), Version allemande EN IEC 62884-3:2018
01/10/2018 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus85,79 € -
DIN EN 60122-1:2018-08
Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique (IEC 60122-1:2002 + A1:2017), Version allemande EN 60122-1:2002 + A1:2018
01/08/2018 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus136,82 € -
DIN EN IEC 63041-2:2018-08
Capteurs piézoélectriques - Partie 2: Capteurs chimiques et biochimiques (IEC 63041-2:2017), Version allemande EN IEC 63041-2:2018
01/08/2018 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus92,62 € -
DIN EN IEC 62604-2:2018-08
Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'utilisation (IEC 62604-2:2017), Version allemande EN IEC 62604-2:2018
01/08/2018 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus104,95 € -
UNE-EN IEC 61837-2:2018
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 2: Ceramic enclosures (Endorsed by Asociación Española de Normalización in August of 2018.)
01/08/2018 - PDF - Anglais - AENOR
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NF EN IEC 61837-2, C93-628-2 (07/2018)
Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2 : enveloppes en céramique
01/07/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus197,00 € -
NF EN 60758, C93-632 (06/2018)
Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation
01/06/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus148,69 € -
NF EN 62276, C93-616 (06/2018)
Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure
01/06/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus123,39 € -
NF EN 61240, C93-614 (06/2018)
Dispositifs piézoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales
01/06/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus85,42 € -
UNE-EN IEC 62884-3:2018
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators – Part 3: Frequency aging test methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in June of 2018.)
01/06/2018 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus64,00 € -
BS EN IEC 62884-3:2018
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Frequency aging test methods
30/05/2018 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus180,00 € -
BS EN 60122-1:2002+A1:2018
Quartz crystal units of assessed quality Generic specification
21/05/2018 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus331,00 € -
IEC 61837-2:2018
IEC 61837-2:2018 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique
08/05/2018 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus431,00 € -
IEC 61837-2:2018
IEC 61837-2:2018 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 2: Enveloppes en céramique
08/05/2018 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus431,00 € -
DIN EN 62884-2:2018-05
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 2: Méthode de mesure des gigues de phase (IEC 62884-2:2017), Version allemande EN 62884-2:2017
01/05/2018 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus104,95 € -
UNE-EN 60122-1:2002/A1:2018
Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2018.)
01/05/2018 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus60,00 € -
DIN EN 60679-1:2018-04
Oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique (IEC 60679-1:2017), Version allemande EN 60679-1:2017
01/04/2018 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus120,84 € -
UNE-EN IEC 62604-2:2018
Surface Acoustic Wave (SAW) and Bulk Acoustic Wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
01/04/2018 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus71,00 € -
UNE-EN IEC 63041-1:2018
Piezoelectric Sensors - Part 1: Generic Specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
01/04/2018 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus71,00 € -
UNE-EN IEC 63041-2:2018
Piezoelectric Sensors - Part 2: Chemical and Biochemical Sensors (Endorsed by Asociación Española de Normalización in April of 2018.)
01/04/2018 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus65,00 € -
IEC 62884-3:2018
IEC 62884-3:2018 Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 3: Méthode d’essai du vieillissement en fréquence
22/03/2018 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus92,00 € -
IEC 62884-3:2018
IEC 62884-3:2018 Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 3: Méthode d’essai du vieillissement en fréquence
22/03/2018 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus92,00 € -
180,00 €
-
NF EN 60122-1/A1, C93-618-1/A1 (03/2018)
Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 1 : spécification générique
01/03/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus88,33 € -
NF EN IEC 62604-2, C93-604-2 (03/2018)
Duplexeurs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2 : lignes directrices d'utilisation
01/03/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,33 € -
NF EN IEC 63041-1, C93-041-1 (03/2018)
Capteurs piézoelectriques - Partie 1 : spécifications génériques
01/03/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,33 € -
NF EN IEC 63041-2, C93-041-2 (03/2018)
Capteurs piézoélectriques - Partie 2 : capteurs chimiques et biochimiques
01/03/2018 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus88,33 € -
DIN EN 62884-1:2018-02
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 1: Méthodes fondamentales pour le mesurage (IEC 62884-1:2017), Version allemande EN 62884-1:2017
01/02/2018 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus163,74 € -
UNE-EN 62884-2:2017
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 2: Phase jitter measurement method (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2018.)
01/01/2018 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus69,00 € -
BS EN 60679-1:2017
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality Generic specification
13/12/2017 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus293,00 € -
IEC 63041-2:2017
IEC 63041-2:2017 Capteurs piézoélectriques - Partie 2 : Capteurs chimiques et biochimiques
13/12/2017 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus92,00 € -
IEC 63041-2:2017
IEC 63041-2:2017 Capteurs piézoélectriques - Partie 2 : Capteurs chimiques et biochimiques
13/12/2017 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus92,00 € -
BS EN 62884-2:2017
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Phase jitter measurement method
08/12/2017 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 Edition 3.1
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 (Version consolidée) Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
08/12/2017 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus385,00 € -
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 Edition 3.1
IEC 60122-1:2002+AMD1:2017 (Version consolidée) Résonateurs à quartz sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
08/12/2017 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus385,00 € -
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 Amendment 1 - Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
08/12/2017 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus46,00 € -
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017
IEC 60122-1:2002/AMD1:2017 Amendment 1 - Quartz crystal units of assessed quality - Part 1: Generic specification
08/12/2017 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus46,00 € -
BS EN 60793-1-33:2017
Optical fibres Measurement methods and test procedures - Stress corrosion susceptibility
07/12/2017 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus331,00 € -
NF EN 62884-2, C93-684-2 (12/2017)
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 2 : méthode de mesure de la gigue de phase
01/12/2017 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,00 € -
UNE-EN 60679-1:2017
Piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2017.)
01/12/2017 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus75,00 € -
DIN EN 60444-8:2017-11
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface (IEC 60444-8:2016), Version allemande EN 60444-8:2017
01/11/2017 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus92,62 € -
NF EN 60679-1, C93-620-1 (11/2017)
Oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques sous assurance de la qualité - Partie 1 : spécification générique
01/11/2017 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus127,67 € -
UNE-EN 62884-1:2017
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators - Part 1: Basic methods for the measurement (Endorsed by Asociación Española de Normalización in November of 2017.)
01/11/2017 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus98,00 € -
50,18 €
-
BS IEC 62047-30:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics MEMS piezoelectric thin film
09/10/2017 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
BS EN 62884-1:2017
Measurement techniques of piezoelectric, dielectric and electrostatic oscillators Basic methods for the measurement
04/10/2017 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus348,00 € -
IEC 62047-30:2017
IEC 62047-30:2017 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 30: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of MEMS piezoelectric thin film
15/09/2017 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus132,00 € -
NF EN 60444-8, C93-621-8 (09/2017)
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8 : dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface
01/09/2017 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus88,33 € -
NF EN 62884-1, C93-684-1 (09/2017)
Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 1 : méthodes fondamentales pour le mesurage
01/09/2017 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus170,00 € -
IEC 62884-2:2017
IEC 62884-2:2017 Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 2 : Méthode de mesure de la gigue de phase
30/08/2017 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus173,00 € -
IEC 62884-2:2017
IEC 62884-2:2017 Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 2 : Méthode de mesure de la gigue de phase
30/08/2017 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus173,00 € -
DIN EN 61240:2017-08
Dispositifs piézoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales (IEC 61240:2016), Version allemande EN 61240:2017
01/08/2017 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus92,62 € -
DIN EN 62276:2017-08
Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure (IEC 62276:2016), Version allemande EN 62276:2016
01/08/2017 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus136,82 € -
IEC 60679-1:2017
IEC 60679-1:2017 Oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
26/07/2017 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus270,00 € -
IEC 60679-1:2017
IEC 60679-1:2017 Oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
26/07/2017 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus270,00 € -
IEC 62884-1:2017
IEC 62884-1:2017 Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 1: Méthodes fondamentales pour le mesurage
08/06/2017 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus397,00 € -
IEC 62884-1:2017
IEC 62884-1:2017 Techniques de mesure des oscillateurs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques - Partie 1: Méthodes fondamentales pour le mesurage
08/06/2017 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus397,00 € -
BS EN 60444-8:2017
Measurement of quartz crystal unit parameters Test fixture for surface mounted units
26/05/2017 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus180,00 € -
UNE-EN 60444-8:2017
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8 : Test fixture for surface mounted quartz crystal units (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2017.)
01/05/2017 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus62,00 € -
DIN EN 60758:2017-04
Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation (IEC 60758:2016), Version allemande EN 60758:2016
01/04/2017 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus158,04 € -
UNE-EN 61240:2017
Piezoelectric devices - Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection - General rules (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2017.)
01/03/2017 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus68,00 € -
BS EN 61240:2017
Piezoelectric devices. Preparation of outline drawings of surface-mounted devices (SMD) for frequency control and selection. General rules
31/01/2017 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
UNE-EN 62276:2016
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2017.)
01/01/2017 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus76,00 € -
BS EN 62276:2016
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications. Specifications and measuring methods
31/12/2016 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus331,00 € -
IEC 60050-561:2014/AMD1:2016
IEC 60050-561:2014/AMD1:2016 Amendment 1 - International Electrotechnical Vocabulary (IEV) - Part 561: Piezoelectric, dielectric and electrostatic devices and associated materials for frequency control, selection and detection
16/12/2016 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus12,00 € -
IEC 60444-8:2016
IEC 60444-8:2016 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface
15/12/2016 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus92,00 € -
IEC 60444-8:2016
IEC 60444-8:2016 Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 8: Dispositif d'essai pour les résonateurs à quartz montés en surface
15/12/2016 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus92,00 € -
UNE-EN 60758:2016
Synthetic Quartz Crystal - Specifications and guidelines for use (Endorsed by AENOR in November of 2016.)
01/11/2016 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus98,00 € -
IEC 62276:2016
IEC 62276:2016 Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure
24/10/2016 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus270,00 € -
IEC 61240:2016
IEC 61240:2016 Dispositifs piezoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs pour montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales
24/10/2016 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus132,00 € -
IEC 62276:2016
IEC 62276:2016 Tranches monocristallines pour applications utilisant des dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) - Spécifications et méthodes de mesure
24/10/2016 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus270,00 € -
IEC 61240:2016
IEC 61240:2016 Dispositifs piezoélectriques - Préparation des dessins d'encombrement des dispositifs pour montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Règles générales
24/10/2016 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus132,00 € -
BS EN 60758:2016
Synthetic quartz crystal. Specifications and guidelines for use
30/09/2016 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus348,00 € -
DIN EN 62575-1:2016-09
Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique (IEC 62575-1:2015), Version allemande EN 62575-1:2016
01/09/2016 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus120,84 € -
IEC 60758:2016
IEC 60758:2016 Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation
18/05/2016 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus345,00 € -
IEC 60758:2016
IEC 60758:2016 Cristal de quartz synthétique - Spécifications et lignes directrices d'utilisation
18/05/2016 - PDF - Anglais - IEC
En savoir plus345,00 € -
DIN EN 61338-1-5:2016-04
Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-5: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la conductivité au niveau de l'interface entre une couche conductrice et un substrat diélectrique fonctionnant aux hyperfréquences (IEC 61338-1-5:2015), Version allemande EN 61338-1-5:2015
01/04/2016 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus99,35 € -
UNE-EN 62575-1:2016
Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in April of 2016.)
01/04/2016 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus75,00 € -
BS EN 62575-1:2016
Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality Generic specification
31/03/2016 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus293,00 € -
NF EN 61837-3, C93-628-3 (01/2016)
Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 3 : enveloppes métalliques
01/01/2016 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus96,59 € -
UNE-EN 60862-1:2015
Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
01/01/2016 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus81,00 € -
UNE-EN 61837-3:2015
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 3: Metal enclosures (Endorsed by AENOR in January of 2016.)
01/01/2016 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus66,00 € -
BS EN 61837-3:2015
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection. Standard outlines terminal lead connections Metal enclosures
31/12/2015 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
BS EN 60862-1:2015
Surface acoustic wave (SAW) filters of assessed quality Generic specification
30/11/2015 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus348,00 € -
IEC 62575-1:2015
IEC 62575-1:2015 Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
29/10/2015 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus270,00 € -
UNE-EN 61338-1-5:2015
Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency (Endorsed by AENOR in October of 2015.)
01/10/2015 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus66,00 € -
UNE-EN 62604-1:2015
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality - Part 1: Generic specification (Endorsed by AENOR in October of 2015.)
01/10/2015 - PDF - Anglais - AENOR
En savoir plus72,00 € -
BS EN 61338-1-5:2015
Waveguide type dielectric resonators General information and test conditions. Measurement method of conductivity at interface between conductor layer substrate microwave frequency
30/09/2015 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus250,00 € -
IEC 60862-1:2015
IEC 60862-1:2015 Filtres à ondes acoustiques de surface (OAS) sous assurance de la qualité - Partie 1: Spécification générique
20/08/2015 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus311,00 € -
NF EN 61837-4, C93-628-4 (08/2015)
Dispositifs piezoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 4 : encombrements des enveloppes hybrides
01/08/2015 - Papier - Français - AFNOR
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IEC 61338-1-5:2015
IEC 61338-1-5:2015 Résonateurs diélectriques à modes guidés - Partie 1-5: Informations générales et conditions d'essais - Méthode de mesure de la conductivité au niveau de l'interface entre une couche conductrice et un substrat diélectrique fonctionnant aux hyperfréquences
25/06/2015 - PDF - Anglais, Français - IEC
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UNE-EN 61837-4:2015
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection - Standard outlines and terminal lead connections - Part 4: Hybrid enclosure outlines (Endorsed by AENOR in June of 2015.)
01/06/2015 - PDF - Anglais - AENOR
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BS EN 61837-4:2015
Surface mounted piezoelectric devices for frequency control and selection. Standard outlines terminal lead connections Hybrid enclosure
31/05/2015 - PDF - Anglais - BSI
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IEC 61837-3:2015
IEC 61837-3:2015 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 3: Enveloppes métalliques
15/04/2015 - PDF - Anglais, Français - IEC
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IEC 61837-4:2015
IEC 61837-4:2015 Dispositifs piézoélectriques à montage en surface pour la commande et le choix de la fréquence - Encombrements normalisés et connexions des sorties - Partie 4: Encombrements des enveloppes hybrides
27/03/2015 - PDF - Anglais, Français - IEC
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DIN EN 62761:2014-12
Lignes directrices pour la méthode de mesure des non-linéarités pour les dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) pour fréquences radioélectriques (RF) (CEI 62761:2014), Version allemande EN 62761:2014
01/12/2014 - PDF - Allemand - DIN
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IEC 60050-561:2014
IEC 60050-561:2014 Vocabulaire Electrotechnique International (IEV) - Partie 561: Dispositifs piézoélectriques, diélectriques et électrostatiques et matériaux associés pour la détection, le choix et la commande de la fréquence
07/11/2014 - PDF - Anglais, Français - IEC
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UNE-EN 62761:2014
Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF) (Endorsed by AENOR in July of 2014.)
01/07/2014 - PDF - Anglais - AENOR
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BS EN 62761:2014
Guidelines for the measurement method of nonlinearity for surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) devices in radio frequency (RF)
30/06/2014 - PDF - Anglais - BSI
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JIS C 6760:2014
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications - Specifications and measuring methods
20/06/2014 - PDF - Japonais - JSA
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NF EN 60444-9, C93-621-9 (05/2014)
Mesure des paramètres des résonateurs à quartz - Partie 9 : mesure des résonances parasites des résonateurs piézoélectriques
01/05/2014 - Papier - Français - AFNOR
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IEC 62761:2014
IEC 62761:2014 Lignes directrices pour la méthode de mesure des non-linéarités pour les dispositifs à ondes acoustiques de surface (OAS) et à ondes acoustiques de volume (OAV) pour fréquences radioélectriques (RF)
19/02/2014 - PDF - Anglais, Français - IEC
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DIN EN 60679-3:2014-01
Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties (CEI 60679-3:2012), Version allemande EN 60679-3:2013
01/01/2014 - PDF - Allemand - DIN
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UNE-EN 60444-6:2013
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 6: Measurement of drive level dependence (DLD) (Endorsed by AENOR in November of 2013.)
01/11/2013 - PDF - Anglais - AENOR
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BS EN 60444-6:2013
Measurement of quartz crystal unit parameters drive level dependence (DLD)
31/10/2013 - PDF - Anglais - BSI
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UNE-EN 60679-3:2013
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality - Part 3: Standard outlines and lead connections (Endorsed by AENOR in August of 2013.)
01/08/2013 - PDF - Anglais - AENOR
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BS EN 60679-3:2013
Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality Standard outlines and lead connections
31/07/2013 - PDF - Anglais - BSI
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IEC 60368-1:2000+AMD1:2004 Edition 4.1
IEC 60368-1:2000+AMD1:2004 (Version consolidée) Filtres piézoélectriques sous assurance de la qualité - Partie 1:Spécification générique
28/05/2013 - PDF - Anglais, Français - IEC
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DIN EN 62575-2:2013-05
Filtres radiofréquences (RF) à ondes acoustiques de volume (OAV) sous assurance de la qualité - Partie 2: Lignes directrices d'emploi (CEI 62575-2:2012), Version allemande EN 62575-2:2012
01/05/2013 - PDF - Allemand - DIN
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IEC 60679-3:2012 Oscillateurs pilotés par quartz sous assurance de la qualité - Partie 3: Encombrements normalisés et connexions des sorties
14/12/2012 - PDF - Anglais, Français - IEC
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UNE-EN 62575-2:2012
Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality - Part 2: Guidelines for the use (Endorsed by AENOR in November of 2012.)
01/11/2012 - PDF - Anglais - AENOR
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BS EN 62575-2:2012
Radio frequency (RF) bulk acoustic wave (BAW) filters of assessed quality Guidelines for the use
31/10/2012 - PDF - Anglais - BSI
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12/30274095 DC:2012
BS EN 60679-1 AMD1. Quartz crystal controlled oscillators of assessed quality. Part 1. Generic specification
26/10/2012 - PDF - Anglais - BSI
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