31.080.99 : Autres dispositifs à semi-conducteurs
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DIN EN IEC 60747-16-7:2024-04
Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators (IEC 60747-16-7:2022), German version EN IEC 60747-16-7:2023
01/04/2024 - PDF - Allemand -
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DIN EN IEC 60747-16-8:2024-04
Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters (IEC 60747-16-8:2022), German version EN IEC 60747-16-8:2023
01/04/2024 - PDF - Allemand -
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24/30490678 DC:2024
BS IEC 60747-5-18 Semiconductor devices Part 5-18: Optoelectronic - Light emitting diodes Test method light diodesof the macro photoluminescence for epitaxial wafers of micro
29/03/2024 - PDF - Anglais -
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BS IEC 62047-43:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical
22/03/2024 - PDF - Anglais -
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IEC 62047-43:2024
IEC 62047-43:2024 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 43: Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible micro-electromechanical devices
19/03/2024 - PDF - Anglais -
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24/30488515 DC:2024
BS EN IEC 62047-50. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 50. MEMS capacitive microphone
05/03/2024 - PDF - Anglais -
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BS IEC 62047-44:2024
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive
29/02/2024 - PDF - Anglais -
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IEC 62047-44:2024
IEC 62047-44:2024 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 44: Test methods for dynamic performances of MEMS resonant electric-field-sensitive devices
22/02/2024 - PDF - Anglais -
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24/30486622 DC:2024
BS EN IEC 62047-49. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 49. Reliability test methods of electro-mechanical conversion characteristics piezoelectric MEMS cantilever
01/02/2024 - PDF - Anglais -
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23/30481371 DC:2023
BS EN IEC 62047-4 Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 4. Generic specification for MEMS
20/10/2023 - PDF - Anglais -
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23/30479765 DC:2023
BS IEC 63512. Test method for continuous-switching evaluation of gallium nitride power conversion devices
25/09/2023 - PDF - Anglais -
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BS IEC 63229:2021
Semiconductor devices. Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
31/08/2023 - PDF - Anglais -
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23/30479181 DC:2023
BS IEC 62047-48. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 48. Test method of determining solution concentration by optical absorption using MEMS fluidic device
25/08/2023 - PDF - Anglais -
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BS IEC 62830-7:2021
Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Linear sliding mode triboelectric
07/07/2023 - PDF - Anglais -
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23/30476409 DC:2023
BS IEC 60947-10. Low-voltage switchgear and controlgear Part 10. Semiconductor Circuit-Breakers
05/07/2023 - PDF - Anglais -
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23/30451654 DC:2023
BS EN IEC 60747-15. Semiconductor devices Part 15. Isolated power semiconductor devices. Discrete
05/07/2023 - PDF - Anglais -
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BS EN IEC 60747-16-7:2022
Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Attenuators
25/05/2023 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices Microwave integrated circuits. Limiters
25/05/2023 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans Concept of mission profile
23/05/2023 - PDF - Anglais -
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PR NF EN IEC 60747-16-9, C96-016-9PR (05/2023)
Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-9 : circuits intégrés hyperfréquences - Déphaseurs
01/05/2023 - Papier - Anglais, Français -
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23/30454374 DC:2023
BS EN IEC 62047-47. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 47. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength microstructures
20/04/2023 - PDF - Anglais -
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23/30454366 DC:2023
BS EN IEC 62047-45. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 45. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of impact resistance nanostructures
20/04/2023 - PDF - Anglais -
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23/30454370 DC:2023
BS EN IEC 62047-46. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 46. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of tensile strength nanoscale membrane
19/04/2023 - PDF - Anglais -
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BS IEC 63150-1:2019
Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Arbitrary random mechanical vibrations
13/04/2023 - PDF - Anglais -
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BS IEC 62047-37:2020
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Environmental test methods of MEMS piezoelectric thin films for sensor application
05/04/2023 - PDF - Anglais -
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BS IEC 60747-5-16:2023
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage GaN-based light diodes based on photocurrent spectroscopy
05/04/2023 - PDF - Anglais -
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IEC 60747-5-16:2023
IEC 60747-5-16:2023 Semiconductor devices - Part 5-16: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage of GaN-based light emitting diodes based on the photocurrent spectroscopy
28/03/2023 - PDF - Anglais -
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BS IEC 60747-18-4:2023
Semiconductor devices bio sensors. Evaluation method of noise characteristics lens-free CMOS photonic array sensors
27/03/2023 - PDF - Anglais -
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BS IEC 60747-18-5:2023
Semiconductor devices bio sensors. Evaluation method for light responsivity characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules by incident angle
23/03/2023 - PDF - Anglais -
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IEC 60747-18-4:2023
IEC 60747-18-4:2023 Semiconductor devices - Part 18-4: Semiconductor bio sensors - Evaluation method of noise characteristics of lens-free CMOS photonic array sensors
16/03/2023 - PDF - Anglais -
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IEC 60747-18-5:2023
IEC 60747-18-5:2023 Semiconductor devices - Part 18-5: Semiconductor bio sensors - Evaluation method for light responsivity characteristics of lens-free CMOS photonic array sensor package modules by incident angle of light
16/03/2023 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices. devices for IoT system Test method of sound variation detection
02/02/2023 - PDF - Anglais -
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Wearable electronic devices and technologies - Part 402-3: Performance measurement method of wearables - Series 2: Accuracy of Heart Rate Determination (IEC 124/167/CD:2021), Text in German and English
01/02/2023 - PDF - Anglais, Allemand -
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BS IEC 62951-8:2023
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Test method for stretchability, flexibility, stability of flexible resistive memory
24/01/2023 - PDF - Anglais -
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IEC 62951-8:2023
IEC 62951-8:2023 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 8: Test method for stretchability, flexibility, and stability of flexible resistive memory
19/01/2023 - PDF - Anglais -
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Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-8 : circuits intégrés hyperfréquences - Limiteurs
01/01/2023 - Papier - Français -
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Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-7 : circuits intégrés hyperfréquences - Atténuateurs
01/01/2023 - Papier - Français -
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Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices Performance testing methods of one transistor resistor (1T1R) resistive memory cells
20/12/2022 - PDF - Anglais -
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IEC 63364-1:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour système IDO - Partie 1: Méthode d’essai de détection de variation acoustique
14/12/2022 - PDF - Anglais, Français -
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IEC 62951-9:2022 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 9: Performance testing methods of one transistor and one resistor (1T1R) resistive memory cells
14/12/2022 - PDF - Anglais -
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IEC 60747-16-7:2022
IEC 60747-16-7:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-7: Circuits intégrés hyperfréquences - Atténuateurs
29/11/2022 - PDF - Anglais, Français -
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IEC 60747-16-8:2022 Dispositifs à semiconducteurs - Partie 16-8: Circuits intégrés hyperfréquences - Limiteurs
29/11/2022 - PDF - Anglais, Français -
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Semiconductor devices. Reliability test method by inductive load switching for gallium nitride transistors
11/11/2022 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics piezoelectric MEMS cantilever
24/10/2022 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices - Part 16-8: Microwave integrated circuits - Limiters (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2023.)
12/10/2022 - PDF - Anglais -
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UNE-EN IEC 63364-1:2023
Semiconductor devices - Semiconductor devices for IOT system - Part 1: Test method of sound variation detection (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2023.)
12/10/2022 - PDF - Anglais -
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UNE-EN IEC 60747-16-7:2023
Semiconductor devices - Part 16-7: Microwave integrated circuits - Attenuators (Endorsed by Asociación Española de Normalización in February of 2023.)
12/10/2022 - PDF - Anglais -
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IEC TR 63357:2022
IEC TR 63357:2022 Semiconductor devices - Standardization roadmap of fault test method for automotive vehicles
11/10/2022 - PDF - Anglais -
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LED modules for general lighting - Safety specifications
28/09/2022 - PDF - Espagnol -
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LED modules for general lighting - Safety specifications
28/09/2022 - PDF - Anglais -
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IEC 62047-42:2022 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 42: Measurement methods of electro-mechanical conversion characteristics of piezoelectric MEMS cantilever
16/09/2022 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices Procedure identifying and evaluating using a combined method optical inspection photoluminescence
07/09/2022 - PDF - Anglais -
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IEC 63068-4:2022
IEC 63068-4:2022 Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4: Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence
27/07/2022 - PDF - Anglais -
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BS IEC 60747-5-15:2022
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on electroreflectance spectroscopy
19/07/2022 - PDF - Anglais -
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BS EN IEC 63373:2022
Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices
17/06/2022 - PDF - Anglais -
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DIN EN IEC 60747-16-9:2022-06
Semiconductor devices - Part 16-9: Microwave integrated circuits - Phase shifters (IEC 47E/768/CD:2021), Text in German and English
01/06/2022 - PDF - Anglais, Allemand -
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22/30430766 DC:2022
BS EN 60947-10. Low-voltage switchgear and controlgear Part 10. Semiconductor Circuit-Breakers
05/05/2022 - PDF - Anglais -
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UNE-EN IEC 63373:2022
Dynamic on-resistance test method guidelines for GaN HEMT based power conversion devices (Endorsed by Asociación Española de Normalización in May of 2022.)
01/05/2022 - PDF - Anglais -
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IEC 60747-5-14:2022 Semiconductor devices - Part 5-14: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the surface temperature based on the thermoreflectance method
04/03/2022 - PDF - Anglais -
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22/30437195 DC:2022
BS IEC 62047-43. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 43. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible electro-mechanical
11/02/2022 - PDF - Anglais -
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IEC 63373:2022
IEC 63373:2022 Lignes directrices pour les méthodes d’essai de résistance dynamique à l’état passant des dispositifs de conversion de puissance fondés sur les HEMT en GaN
10/02/2022 - PDF - Anglais, Français -
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IEC 60747-5-15:2022 Semiconductor devices - Part 5-15: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of the flat-band voltage based on the electroreflectance spectroscopy
07/01/2022 - PDF - Anglais -
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21/30440970 DC:2021
BS EN IEC 60747-5-16. Semiconductor devices Part 5-16. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the flat-band voltage based on photocurrent spectroscopy
07/12/2021 - PDF - Anglais -
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UNE-EN IEC 63244-1:2021
Semiconductor devices - Semiconductor devices for wireless power transfer and charging - Part 1: General requirements and specifications (Endorsed by Asociación Española de Normalización in December of 2021.)
01/12/2021 - PDF - Anglais -
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PD IEC TR 60747-5-12:2021
Semiconductor devices Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of LED efficiencies
19/11/2021 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices. devices for wireless power transfer and charging General requirements specifications
05/11/2021 - PDF - Anglais -
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BS IEC 62830-8:2021
Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Test evaluation methods of flexible stretchable supercapacitors use in low power electronics
04/11/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 62830-8:2021 Semiconductor devices - Semiconductor devices for energy harvesting and generation - Part 8: Test and evaluation methods of flexible and stretchable supercapacitors for use in low power electronics
22/10/2021 - PDF - Anglais -
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IEC TR 60747-5-12:2021 Semiconductor devices - Part 5-12: Optoelectronic devices - Light emitting diodes - Test method of LED efficiencies
13/10/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 63244-1:2021
IEC 63244-1:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour le transfert de puissance et la charge sans fil - Partie 1: Exigences et spécifications générales
14/09/2021 - PDF - Anglais, Français -
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14/09/2021 - PDF - Anglais -
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21/30436870 DC:2021
BS IEC 60747-16-9. Semiconductor devices Part 16-9. Microwave integrated circuits. Phase shifters
03/09/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 62047-40:2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 40:Test methods of micro-electromechanical inertial shock switch threshold
03/09/2021 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices - Part 16-6: Microwave integrated circuits - Frequency multipliers (IEC 60747-16-6:2019), German version EN IEC 60747-16-6:2019
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Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators (IEC 60747-16-5:2013 + A1:2020 + COR1:2020), German version EN 60747-16-5:2013 + A1:2020.
01/08/2021 - PDF - Allemand -
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BS IEC 63150-2. Semiconductor devices. Measurement and evaluation methods of kinetic energy harvesting devices under practical vibration environment Part 2. Human arm swing motion
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07/07/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 60747-5-6:2021 (Redline version) Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
06/07/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 60747-5-6:2021 Semiconductor devices - Part 5-6: Optoelectronic devices - Light emitting diodes
06/07/2021 - PDF - Anglais -
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PD IEC TS 60747-19-2:2021
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02/07/2021 - PDF - Anglais -
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28/06/2021 - PDF - Anglais -
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28/06/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 62047-38:2021 Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 38: Test method for adhesion strength of metal powder paste in MEMS interconnection
23/06/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 62047-41:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 41: Circulateurs et isolateurs à MEMS RF
15/06/2021 - PDF - Anglais, Français -
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IEC 60747-5-13:2021
IEC 60747-5-13:2021 Semiconductor devices - Part 5-13: Optoelectronic devices - Hydrogen sulphide corrosion test for LED packages
15/06/2021 - PDF - Anglais -
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IEC TS 60747-19-2:2021 Semiconductor devices - Part 19-2: Smart sensors - Indication of specifications of sensors and power supplies to drive smart sensors for low power operation
21/05/2021 - PDF - Anglais -
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BS IEC 62047-35:2019
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Test method of electrical characteristics under bending deformation for flexible electromechanical
20/04/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 63229:2021
IEC 63229:2021 Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate
07/04/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 62830-7:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour récupération et génération d’énergie - Partie 7: Récupération d’énergie triboélectrique en mode de coulissement linéaire
03/03/2021 - PDF - Anglais, Français -
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Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in March of 2021.)
01/03/2021 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices. devices for energy harvesting and generation Test method measuring generated power from flexible thermoelectric
03/02/2021 - PDF - Anglais -
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Semiconductor devices Magnetic and capacitive coupler for basic reinforced insulation
03/02/2021 - PDF - Anglais -
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IEC 62830-5:2021 Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs à semiconducteurs pour récupération et production d'énergie - Partie 5: Méthode d’essai pour la mesure de la puissance générée par des dispositifs thermoélectriques souples
21/01/2021 - PDF - Anglais, Français -
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Semiconductor devices - Part 17: Magnetic and capacitive coupler for basic and reinforced insulation (Endorsed by Asociación Española de Normalización in January of 2021.)
01/01/2021 - PDF - Anglais -
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Dispositifs à semiconducteurs - Partie 17 : coupleur magnétique et capacitif pour l'isolation principale et renforcée
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Semiconductor devices - Part 16-5: Microwave integrated circuits - Oscillators (Endorsed by Asociación Española de Normalización in October of 2020.)
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NF EN 60747-16-5/A1, C96-016-5/A1 (09/2020)
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20/30422991 DC:2020
BS EN IEC 60747-5-14. Semiconductor devices Part 5-14. Optoelectronic devices. Light emitting diodes. Test method of the surface temperature based on thermoreflectance
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17/10/2019 - PDF - Anglais, Français -
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19/30404655 DC:2019
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19/30392174 DC:2019
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16/03/2018 - PDF - Anglais -
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