29.045 : Matériaux semi-conducteurs

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  • DIN 50451-4:2024-01

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
    01/01/2024 - PDF - Allemand - DIN
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    65,89 €

  • 23/30450091 DC:2023

    BS IEC 62899-203-2 Printed electronics Materials - Semiconductor Ink- Space charge limited mobility measurement in printed organic semiconductive layers
    01/12/2023 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • DIN 50453-1:2023-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 1: Silicium monocrystals, gravimetric method
    01/08/2023 - PDF - Allemand - DIN
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    45,98 €

  • DIN 50453-2:2023-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 2: Silicon-dioxide coating, optical method
    01/08/2023 - PDF - Allemand - DIN
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    45,98 €

  • DIN 50451-8:2022-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 8: Determination of 33 elements in high-purity sulfuric acid by ICP-MS
    01/08/2022 - PDF - Allemand - DIN
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    52,90 €

  • DIN 50451-5:2022-08

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the determination of trace elements in the range of micrograms per kilogram and nanograms per kilogram
    01/08/2022 - PDF - Allemand - DIN
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    52,90 €

  • 22/30439670 DC:2021

    BS EN IEC 60146-1-1. Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Part 1-1. Specification of basic
    24/12/2021 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • BS IEC 62899-503-3:2021

    Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length
    08/09/2021 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 62899-503-3:2021

    IEC 62899-503-3:2021 Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
    24/08/2021 - PDF - Anglais - IEC
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    92,00 €

  • 21/30428334 DC:2021

    BS EN IEC 62899-203. Printed electronics Part 203. Materials. Semiconductor ink
    23/07/2021 - PDF - Anglais - BSI
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    24,00 €

  • DIN 50450-9:2021-07

    Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C<(Index)1>-C<(Index)3>-hydrocarbons in gaseous hydrogen chloride by gaschromatography
    01/07/2021 - PDF - Allemand - DIN
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    39,35 €

  • BS IEC 62899-503-1:2020

    Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
    25/09/2020 - PDF - Anglais - BSI
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    180,00 €

  • IEC 62899-503-1:2020

    IEC 62899-503-1:2020 Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
    27/05/2020 - PDF - Anglais - IEC
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    92,00 €

  • PD IEC TR 60146-1-2:2019

    Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Application guide
    13/11/2019 - PDF - Anglais - BSI
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    398,00 €

  • IEC TR 60146-1-2:2019

    IEC TR 60146-1-2:2019 Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
    22/10/2019 - PDF - Anglais - IEC
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    431,00 €

  • IEC TR 60146-1-2:2019 + Redline

    IEC TR 60146-1-2:2019 (Redline version) Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
    22/10/2019 - PDF - Anglais - IEC
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    561,00 €

  • BS IEC 62899-203:2018

    Printed electronics Materials. Semiconductor ink
    10/10/2018 - PDF - Anglais - BSI
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    250,00 €

  • IEC 62899-203:2018

    IEC 62899-203:2018 Printed electronics - Part 203: Materials - Semiconductor ink
    28/09/2018 - PDF - Anglais - IEC
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    173,00 €

  • DIN 50451-7:2018-04

    Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Dosage des éléments en traces dans les liquides - Partie 7: Détermination de 31 éléments dans l'acide chlorhydrique de haute pureté par ICP-MS
    01/04/2018 - PDF - Allemand - DIN
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    59,63 €

  • DIN SPEC 1994:2017-02

    Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Détermination d'anions dans acides faibles
    01/02/2017 - PDF - Allemand - DIN
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    42,43 €

  • NF EN 62047-25, C96-050-25 (12/2016)

    Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 25 : technologie de fabrication de MEMS à base de silicium - Méthode de mesure de la résistance à la traction-compression et au cisaillement d'une micro zone de brasure
    01/12/2016 - Papier - Français - AFNOR
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    103,33 €

  • ASTM F980-16(2024)

    Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
    01/12/2016 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    60,00 €

  • ASTM F980-16(2024) + Redline

    Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
    01/12/2016 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    72,00 €

  • NF EN 62047-22, C96-050-22 (12/2014)

    Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 22 : méthode d'essai de traction électromécanique pour les couches minces conductrices sur des substrats souples
    01/12/2014 - Papier - Français - AFNOR
    En savoir plus
    72,00 €

  • DIN 50451-3:2014-11

    Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Dosage des éléments en traces dans les liquides - Partie 3: Détermination de 31 éléments dans l'acide nitrique de haute pureté par ICP-MS
    01/11/2014 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    72,80 €

  • DIN 50451-6:2014-11

    Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Détermination des traces des éléments dans les liquides - Partie 6: Détermination de 36 éléments dans une solution de fluorure d'ammonium de haute pureté (NH4F) et dans des solutions caustiques de fluorure d'ammonium de haute pureté contenant de l'acide fluorhydrique
    01/11/2014 - PDF - Allemand - DIN
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    59,63 €

  • NF EN 62047-11, C96-050-11 (03/2014)

    Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 11 : méthode d'essai pour les coefficients de dilatation thermique linéaire des matériaux autonomes pour systèmes microélectromécaniques
    01/03/2014 - Papier - Français - AFNOR
    En savoir plus
    103,33 €

  • NF EN 62047-18, C96-050-18 (02/2014)

    Dispositifs à semiconducteurs - Dispositif microélectromécaniques - Partie 18 : méthodes d'essai de flexion des matériaux en couche mince
    01/02/2014 - Papier - Français - AFNOR
    En savoir plus
    88,33 €

  • ASTM D6095-12(2023)

    Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
    01/11/2012 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    48,00 €

  • NF EN 62047-9, C96-050-9 (04/2012)

    Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 9 : mesure de la résistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS
    01/04/2012 - Papier - Français - AFNOR
    En savoir plus
    103,33 €

  • ASTM D6095-12(2023) + Redline

    Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
    01/01/2012 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    57,00 €

  • ASTM E1438-11(2019)

    Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
    01/01/2011 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    46,00 €

  • ASTM E1438-11(2019) + Redline

    Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
    01/01/2011 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    53,00 €

  • BS EN 60146-1-1:2010

    Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Specification of basic
    31/08/2010 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    377,00 €

  • GB/T 1558-2009

    Test method for substitutional atomic carbon concent of silicon by infrared absorption
    30/10/2009 - PDF - Anglais - CODCHI
    En savoir plus
    165,00 €

  • DIN 50455-1:2009-10

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthodes de caractérisation des vernis pour photos - Partie 1: Détermination de l'épaisseur des couches par méthode optique
    01/10/2009 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    39,35 €

  • DIN 50452-2:2009-10

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode pour l'analyse des particules dans les liquides - Partie 2: Détermination des particules par compteur optique de particules
    01/10/2009 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    52,90 €

  • IEC 60146-1-1:2009

    IEC 60146-1-1:2009 Convertisseurs à semiconducteurs - Exigences générales et convertisseurs commutés par le réseau - Partie 1-1: Spécification des exigences de base
    29/06/2009 - PDF - Anglais, Français - IEC
    En savoir plus
    431,00 €

  • ASTM D3004-08(2020)

    Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
    01/01/2008 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    46,00 €

  • ASTM D3004-08(2020) + Redline

    Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
    01/01/2008 - PDF - Anglais - ASTM
    En savoir plus
    53,00 €

  • DIN 50451-4:2007-02

    Essais des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Détermination des éléments en traces dans les liquides - Partie 4: Détermination de 34 éléments dans l'eau de grande pureté par spectrométrie de masse avec plasma à couplage inductif
    01/02/2007 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    59,63 €

  • BS EN 62226-2-1:2005

    Exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range. Methods for calculating current density internal field induced human body 2D models
    11/02/2005 - PDF - Anglais - BSI
    En savoir plus
    348,00 €

  • JIS R 1650-1:2002 (R2016)

    Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 1: Thermoelectric power
    20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS R 1650-2:2002 (R2016)

    Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 2: Resistivity
    20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS R 1650-3:2002 (R2016)

    Method for measurement of fine ceramics thermoelectric materials Part 3: Thermal diffusivity, specific heat capacity, and thermal conductivity
    20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS R 1651:2002 (R2016)

    Method for measurement of pyroelectric coefficient of fine ceramics
    20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS R 1801:2002 (R2016)

    Method of measuring spectral emissivity of ceramic radiating materials for infrared heaters by using FTIR
    20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • DIN 50455-2:1999-11

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode de caractérisation des laques photosensibles - Partie 2: Détermination de la sensibilité des laques photosensibles positives
    01/11/1999 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    32,34 €

  • DIN 50455-2:1999-11

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode de caractérisation des laques photosensibles - Partie 2: Détermination de la sensibilité des laques photosensibles positives
    01/11/1999 - PDF - Anglais - DIN
    En savoir plus
    40,56 €

  • JIS H 0614:1996 (R2015)

    Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
    01/01/1996 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • DIN 50452-1:1995-11

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode pour l'analyse des particules - Partie 1: Détermination de la concentration des particules avec un microscope
    01/11/1995 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    32,34 €

  • DIN 50452-1:1995-11

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode pour l'analyse des particules - Partie 1: Détermination de la concentration des particules avec un microscope
    01/11/1995 - PDF - Anglais - DIN
    En savoir plus
    40,56 €

  • JIS H 0602:1995 (R2015)

    Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
    01/11/1995 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • DIN 50452-3:1995-10

    Essai de matériaux pour la technologie semi-conducteurs - Méthode pour l'analyse des particules dans des liquides - Partie 3: Calibrage des compteurs optiques de particules
    01/10/1995 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    39,35 €

  • DIN 50452-3:1995-10

    Essai de matériaux pour la technologie semi-conducteurs - Méthode pour l'analyse des particules dans des liquides - Partie 3: Calibrage des compteurs optiques de particules
    01/10/1995 - PDF - Anglais - DIN
    En savoir plus
    49,16 €

  • JIS H 0604:1995 (R2014)

    Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
    01/07/1995 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS H 0611:1994 (R2015)

    Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
    01/01/1994 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • DIN 50450-4:1993-09

    Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs, détermination des impuretés dans les gaz véhiculeurs et les gaz dopants, détermination par chromatographie en phase gazeuse d'hydrocarbures C1 à C3
    01/09/1993 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    32,34 €

  • DIN 50450-2:1991-03

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteur, détermination de la contamination des gaz porteurs et des gaz dopés, détermination de la contamination de l'oxygène dans N2, Ar, He, Ne et H2 avec une cellule galvanique
    01/03/1991 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    32,34 €

  • DIN 50450-1:1987-08

    Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs, détermination des impuretés dans les gaz porteurs et gaz dopés, détermination de l'impureté de l'eau dans l'hydrogène, l'oxygène, l'azote l'argon et l'hélium, par usage de P2O5
    01/08/1987 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    32,34 €

  • DIN 1715-1:1983-11

    Thermostat metals, technical delivery conditions
    01/11/1983 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    45,98 €

  • DIN 1715-1:1983-11

    Thermostat metals, technical delivery conditions
    01/11/1983 - PDF - Anglais - DIN
    En savoir plus
    57,57 €

  • DIN 1715-2:1983-11

    Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
    01/11/1983 - PDF - Allemand - DIN
    En savoir plus
    32,34 €

  • DIN 1715-2:1983-11

    Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
    01/11/1983 - PDF - Anglais - DIN
    En savoir plus
    40,56 €

  • JIS H 0603:1978 (R2014)

    Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
    01/03/1978 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS H 0607:1978 (R2014)

    Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method
    01/03/1978 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS H 0613:1978 (R2014)

    Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
    01/01/1978 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS H 0610:1966 (R2014)

    Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
    01/12/1966 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

  • JIS H 0601:1962 (R2014)

    Testing methods of resistivity for germanium
    01/06/1962 - PDF - Japonais - JSA
    En savoir plus
    25,00 €

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