29.045 : Matériaux semi-conducteurs
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DIN 50451-4:2024-01
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 4: Determination of 34 elements in ultra pure water by mass spectrometry with inductively coupled plasma (ICP-MS)
01/01/2024 - PDF - Allemand - DIN
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23/30450091 DC:2023
BS IEC 62899-203-2 Printed electronics Materials - Semiconductor Ink- Space charge limited mobility measurement in printed organic semiconductive layers
01/12/2023 - PDF - Anglais - BSI
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DIN 50453-1:2023-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 1: Silicium monocrystals, gravimetric method
01/08/2023 - PDF - Allemand - DIN
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DIN 50453-2:2023-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 2: Silicon-dioxide coating, optical method
01/08/2023 - PDF - Allemand - DIN
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DIN 50451-8:2022-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of traces of elements in liquids - Part 8: Determination of 33 elements in high-purity sulfuric acid by ICP-MS
01/08/2022 - PDF - Allemand - DIN
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DIN 50451-5:2022-08
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of trace elements in liquids - Part 5: Guideline for the selection of materials and testing of their suitability for apparatus for sampling and sample preparation for the determination of trace elements in the range of micrograms per kilogram and nanograms per kilogram
01/08/2022 - PDF - Allemand - DIN
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22/30439670 DC:2021
BS EN IEC 60146-1-1. Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Part 1-1. Specification of basic
24/12/2021 - PDF - Anglais - BSI
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BS IEC 62899-503-3:2021
Printed electronics Quality assessment. Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor. Transfer length
08/09/2021 - PDF - Anglais - BSI
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IEC 62899-503-3:2021
IEC 62899-503-3:2021 Printed electronics - Part 503-3: Quality assessment - Measuring method of contact resistance for the printed thin film transistor - Transfer length method
24/08/2021 - PDF - Anglais - IEC
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21/30428334 DC:2021
BS EN IEC 62899-203. Printed electronics Part 203. Materials. Semiconductor ink
23/07/2021 - PDF - Anglais - BSI
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DIN 50450-9:2021-07
Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 9: Determination of oxygen, nitrogen, carbonmonoxide, carbondioxide, hydrogen and C<(Index)1>-C<(Index)3>-hydrocarbons in gaseous hydrogen chloride by gaschromatography
01/07/2021 - PDF - Allemand - DIN
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BS IEC 62899-503-1:2020
Printed electronics Quality assessment. Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
25/09/2020 - PDF - Anglais - BSI
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IEC 62899-503-1:2020
IEC 62899-503-1:2020 Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor
27/05/2020 - PDF - Anglais - IEC
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PD IEC TR 60146-1-2:2019
Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Application guide
13/11/2019 - PDF - Anglais - BSI
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IEC TR 60146-1-2:2019
IEC TR 60146-1-2:2019 Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
22/10/2019 - PDF - Anglais - IEC
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IEC TR 60146-1-2:2019 + Redline
IEC TR 60146-1-2:2019 (Redline version) Semiconductor converters - General requirements and line commutated converters - Part 1-2: Application guidelines
22/10/2019 - PDF - Anglais - IEC
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250,00 €
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IEC 62899-203:2018
IEC 62899-203:2018 Printed electronics - Part 203: Materials - Semiconductor ink
28/09/2018 - PDF - Anglais - IEC
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DIN 50451-7:2018-04
Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Dosage des éléments en traces dans les liquides - Partie 7: Détermination de 31 éléments dans l'acide chlorhydrique de haute pureté par ICP-MS
01/04/2018 - PDF - Allemand - DIN
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DIN SPEC 1994:2017-02
Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Détermination d'anions dans acides faibles
01/02/2017 - PDF - Allemand - DIN
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NF EN 62047-25, C96-050-25 (12/2016)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 25 : technologie de fabrication de MEMS à base de silicium - Méthode de mesure de la résistance à la traction-compression et au cisaillement d'une micro zone de brasure
01/12/2016 - Papier - Français - AFNOR
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ASTM F980-16(2024)
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
01/12/2016 - PDF - Anglais - ASTM
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ASTM F980-16(2024) + Redline
Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices
01/12/2016 - PDF - Anglais - ASTM
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NF EN 62047-22, C96-050-22 (12/2014)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 22 : méthode d'essai de traction électromécanique pour les couches minces conductrices sur des substrats souples
01/12/2014 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus72,00 € -
DIN 50451-3:2014-11
Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Dosage des éléments en traces dans les liquides - Partie 3: Détermination de 31 éléments dans l'acide nitrique de haute pureté par ICP-MS
01/11/2014 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus72,80 € -
DIN 50451-6:2014-11
Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Détermination des traces des éléments dans les liquides - Partie 6: Détermination de 36 éléments dans une solution de fluorure d'ammonium de haute pureté (NH4F) et dans des solutions caustiques de fluorure d'ammonium de haute pureté contenant de l'acide fluorhydrique
01/11/2014 - PDF - Allemand - DIN
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NF EN 62047-11, C96-050-11 (03/2014)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 11 : méthode d'essai pour les coefficients de dilatation thermique linéaire des matériaux autonomes pour systèmes microélectromécaniques
01/03/2014 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,33 € -
NF EN 62047-18, C96-050-18 (02/2014)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositif microélectromécaniques - Partie 18 : méthodes d'essai de flexion des matériaux en couche mince
01/02/2014 - Papier - Français - AFNOR
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ASTM D6095-12(2023)
Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
01/11/2012 - PDF - Anglais - ASTM
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NF EN 62047-9, C96-050-9 (04/2012)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs microélectromécaniques - Partie 9 : mesure de la résistance de collage de deux plaquettes pour les MEMS
01/04/2012 - Papier - Français - AFNOR
En savoir plus103,33 € -
ASTM D6095-12(2023) + Redline
Standard Test Method for Longitudinal Measurement of Volume Resistivity for Extruded Crosslinked and Thermoplastic Semiconducting Conductor and Insulation Shielding Materials
01/01/2012 - PDF - Anglais - ASTM
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ASTM E1438-11(2019)
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
01/01/2011 - PDF - Anglais - ASTM
En savoir plus46,00 € -
ASTM E1438-11(2019) + Redline
Standard Guide for Measuring Widths of Interfaces in Sputter Depth Profiling Using SIMS
01/01/2011 - PDF - Anglais - ASTM
En savoir plus53,00 € -
BS EN 60146-1-1:2010
Semiconductor converters. General requirements and line commutated converters Specification of basic
31/08/2010 - PDF - Anglais - BSI
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GB/T 1558-2009
Test method for substitutional atomic carbon concent of silicon by infrared absorption
30/10/2009 - PDF - Anglais - CODCHI
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DIN 50455-1:2009-10
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthodes de caractérisation des vernis pour photos - Partie 1: Détermination de l'épaisseur des couches par méthode optique
01/10/2009 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus39,35 € -
DIN 50452-2:2009-10
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode pour l'analyse des particules dans les liquides - Partie 2: Détermination des particules par compteur optique de particules
01/10/2009 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus52,90 € -
IEC 60146-1-1:2009
IEC 60146-1-1:2009 Convertisseurs à semiconducteurs - Exigences générales et convertisseurs commutés par le réseau - Partie 1-1: Spécification des exigences de base
29/06/2009 - PDF - Anglais, Français - IEC
En savoir plus431,00 € -
ASTM D3004-08(2020)
Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
01/01/2008 - PDF - Anglais - ASTM
En savoir plus46,00 € -
ASTM D3004-08(2020) + Redline
Standard Specification for Crosslinked and Thermoplastic Extruded Semi-Conducting, Conductor, and Insulation Shielding Materials
01/01/2008 - PDF - Anglais - ASTM
En savoir plus53,00 € -
DIN 50451-4:2007-02
Essais des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs - Détermination des éléments en traces dans les liquides - Partie 4: Détermination de 34 éléments dans l'eau de grande pureté par spectrométrie de masse avec plasma à couplage inductif
01/02/2007 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus59,63 € -
BS EN 62226-2-1:2005
Exposure to electric or magnetic fields in the low and intermediate frequency range. Methods for calculating current density internal field induced human body 2D models
11/02/2005 - PDF - Anglais - BSI
En savoir plus348,00 € -
JIS R 1650-1:2002 (R2016)
Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 1: Thermoelectric power
20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS R 1650-2:2002 (R2016)
Testing method for fine ceramics thermoelectric materials Part 2: Resistivity
20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS R 1650-3:2002 (R2016)
Method for measurement of fine ceramics thermoelectric materials Part 3: Thermal diffusivity, specific heat capacity, and thermal conductivity
20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS R 1651:2002 (R2016)
Method for measurement of pyroelectric coefficient of fine ceramics
20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS R 1801:2002 (R2016)
Method of measuring spectral emissivity of ceramic radiating materials for infrared heaters by using FTIR
20/03/2002 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
DIN 50455-2:1999-11
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode de caractérisation des laques photosensibles - Partie 2: Détermination de la sensibilité des laques photosensibles positives
01/11/1999 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus32,34 € -
DIN 50455-2:1999-11
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode de caractérisation des laques photosensibles - Partie 2: Détermination de la sensibilité des laques photosensibles positives
01/11/1999 - PDF - Anglais - DIN
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JIS H 0614:1996 (R2015)
Visual inspection for silicon wafers with specular surfaces
01/01/1996 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
DIN 50452-1:1995-11
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode pour l'analyse des particules - Partie 1: Détermination de la concentration des particules avec un microscope
01/11/1995 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus32,34 € -
DIN 50452-1:1995-11
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs - Méthode pour l'analyse des particules - Partie 1: Détermination de la concentration des particules avec un microscope
01/11/1995 - PDF - Anglais - DIN
En savoir plus40,56 € -
JIS H 0602:1995 (R2015)
Testing method of resistivity for silicon crystals and silicon wafers with four-point probe
01/11/1995 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
DIN 50452-3:1995-10
Essai de matériaux pour la technologie semi-conducteurs - Méthode pour l'analyse des particules dans des liquides - Partie 3: Calibrage des compteurs optiques de particules
01/10/1995 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus39,35 € -
DIN 50452-3:1995-10
Essai de matériaux pour la technologie semi-conducteurs - Méthode pour l'analyse des particules dans des liquides - Partie 3: Calibrage des compteurs optiques de particules
01/10/1995 - PDF - Anglais - DIN
En savoir plus49,16 € -
JIS H 0604:1995 (R2014)
Measuring of minority-carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method
01/07/1995 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS H 0611:1994 (R2015)
Methods of measurement of thickness, thickness variation and bow for silicon wafer
01/01/1994 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
DIN 50450-4:1993-09
Essai des matériaux pour la technologie des semi-conducteurs, détermination des impuretés dans les gaz véhiculeurs et les gaz dopants, détermination par chromatographie en phase gazeuse d'hydrocarbures C1 à C3
01/09/1993 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus32,34 € -
DIN 50450-2:1991-03
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteur, détermination de la contamination des gaz porteurs et des gaz dopés, détermination de la contamination de l'oxygène dans N2, Ar, He, Ne et H2 avec une cellule galvanique
01/03/1991 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus32,34 € -
DIN 50450-1:1987-08
Essai des matériaux pour la technologie des semiconducteurs, détermination des impuretés dans les gaz porteurs et gaz dopés, détermination de l'impureté de l'eau dans l'hydrogène, l'oxygène, l'azote l'argon et l'hélium, par usage de P2O5
01/08/1987 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus32,34 € -
45,98 €
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57,57 €
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DIN 1715-2:1983-11
Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
01/11/1983 - PDF - Allemand - DIN
En savoir plus32,34 € -
DIN 1715-2:1983-11
Thermostat metals, testing the specific thermal curvature
01/11/1983 - PDF - Anglais - DIN
En savoir plus40,56 € -
JIS H 0603:1978 (R2014)
Measurement of minority carrier life time in germanium by photoconductive decay method
01/03/1978 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS H 0607:1978 (R2014)
Determination of conductivity type in germanium by thermoelectromotive method
01/03/1978 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS H 0613:1978 (R2014)
Visual inspection for sliced and lapped silicon wafers
01/01/1978 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
JIS H 0610:1966 (R2014)
Method of measurement of etch pit density of germanium crystal
01/12/1966 - PDF - Japonais - JSA
En savoir plus25,00 € -
25,00 €