| Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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Papier |
Allemand |
Active |
01/10/2018 |
121,28 € |
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Détails
This part of series DIN EN 60749 establishes the procedure for testing, evaluating, and classifying components and microcircuits according to their susceptibility (sensitivity) to damage or degradation by exposure to a defined human body model (HBM) electrostatic discharge (ESD).
Informations supplémentaires
| Auteur | VDE |
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| Type de document | Norme |
| ICS | 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
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| Nombre de pages | 59 |
| Remplace | DIN EN 60749-26 (2014-09),DIN EN 60749-26 (2017-07) |
| Produits apparentés | EN IEC 60749-26 (2018-03), IDT,IEC 60749-26 (2018-01), IDT |
| Poids (kg.) | 0.20 |
| Historique | DIN EN IEC 60749-26 (2018-10),DIN EN 60749-26 (2017-07),DIN EN 60749-26 (2014-09),DIN IEC 60749-26 (2011-09),DIN EN 60749-26 (2007-01),DIN EN 60749-26 (2005-05),DIN EN 60749-26 (2002-09) |
| Mot-clé | DIN EN IEC 60749,EN IEC 60749,EN IEC 60749-26,60749 |
