| Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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PDF |
Allemand |
Active |
01/06/2015 |
72,80 € |
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Détails
This document specifies methods for optical topographic measurement of the layer thickness of layer systems, with different mechanical properties of layer and substrate, in order to determine systematic deviations of the measured layer thickness.
Informations supplémentaires
| Auteur | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
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| Edité par | DIN |
| Type de document | Norme |
| ICS | 39.020 : Mécanique de précision
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| Nombre de pages | 18 |
| Historique | DIN 32567-5 (2015-06),DIN 32567-5 (2014-11) |
| Mot-clé | DIN 32567-5 |
