BS ISO 23170:2022

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Surface chemical analysis. Depth profiling. Non-destructive depth profiling of nanoscale heavy metal oxide thin films on Si substrates with medium energy ion scattering

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293,00 €

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Control surfaces,Testing,Chemical methods of analysis,Chemical tests,Laboratories (chemical),Reactions (chemical)

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité CII/60 - Materials
Edité par BSI
Type de document Norme
EAN ISBN 978 0 539 14473 4
ICS 71.040.40 : Méthodes d'analyse chimique
Nombre de pages 38
Mot-clé BS ISO 23170:2022