BS ISO 14701:2018 + Redline

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Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness

326,00 €

Détails

Spectroscopy,Thickness measurement,Photoelectron spectroscopy,X-ray photoelectron spectroscopy,Surface chemistry,Silicon,Chemical analysis and testing,Surface properties,Oxides,Electron emission

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité CII/60 - Materials
Edité par BSI
Type de document Norme
EAN ISBN 978 0 539 11820 9
ICS 71.040.40 : Méthodes d'analyse chimique
Nombre de pages 54
Mot-clé BS ISO 14701:2018 - TC