BS IEC 63275-1:2022

BS IEC 63275-1:2022

Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Test bias temperature instability

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180,00 €

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité EPL/47 - Electrical
Edité par BSI
Type de document Norme
EAN ISBN 978 0 539 12126 1
ICS 31.080.30 : Transistors
Nombre de pages 16
Mot-clé BS IEC 63275-1:2022