| Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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PDF |
Anglais |
Active |
07/09/2022 |
250,00 € |
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Détails
Semiconductor devices,Silicon carbide,Defects,Inspection,Evaluation
Informations supplémentaires
| Auteur | British Standards Institution (BSI) |
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| Comité | EPL/47 - Electrical |
| Edité par | BSI |
| Type de document | Norme |
| EAN ISBN | 978 0 539 18417 4 |
| ICS | 31.080.99 : Autres dispositifs à semi-conducteurs
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| Nombre de pages | 28 |
| Mot-clé | BS IEC 63068-4:2022 |
