BS EN IEC 60749-37:2022 + Redline

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Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Board level drop method using an accelerometer

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326,00 €

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité EPL/47 - Electrical
Edité par BSI
Type de document Norme
EAN ISBN 978 0 539 25325 2
ICS 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
Nombre de pages 60
Mot-clé BS EN IEC 60749-37:2022 - TC