BS EN IEC 60749-28:2022

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Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). level

348,00 €

Détails

Electrostatics,Electric charge,Electronic equipment and components,Electric discharges,Mechanical testing,Semiconductor devices,Test methods,Environmental testing,Integrated circuits

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité EPL/47 - Electrical
Edité par BSI
Type de document Norme
EAN ISBN 978 0 539 13657 9
ICS 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
Nombre de pages 54
Remplace BS EN 60749-28:2017
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