Nom | Support | Langue | Disponibilité | Date d'édition | Prix | ||
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PDF |
Anglais |
Active |
15/05/2019 |
151,00 € |
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PDF |
Anglais |
Active |
24/02/2020 |
197,00 € |
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Détails
Irradiation,Electronic equipment and components,Destructive testing,Climate,Neutrons,Military equipment,Integrated circuits,Military engineering,Dosimeters,Radiation measurement,Environmental testing,Mechanical testing,Nuclear particles,Space technology components,Degradation,Semiconductor devices
Informations supplémentaires
Auteur | British Standards Institution (BSI) |
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Comité | EPL/47 - Electrical |
Edité par | BSI |
Type de document | Norme |
EAN ISBN | 978-0-539-07871-8 |
ICS | 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
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Mot-clé | BS EN IEC 60749-17:2019 - TC |