BS EN IEC 60749-10:2022 + Redline

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Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods shock. device subassembly

235,00 €

Détails

Impact testing,Mechanical testing,Semiconductor devices,Destructive testing,Climate,Integrated circuits,Mechanical shock,Electronic equipment and components,Environmental testing

Informations supplémentaires

Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité EPL/47 - Electrical
Edité par BSI
Type de document Norme
EAN ISBN 978 0 539 23482 4
ICS 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
Nombre de pages 38
Mot-clé BS EN IEC 60749-10:2022 - TC