23/30454374 DC:2023

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BS EN IEC 62047-47. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 47. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of bending strength microstructures

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24,00 €

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité EPL/47 - Electrical
Edité par BSI
Type de document Projet de norme
ICS 31.080.99 : Autres dispositifs à semi-conducteurs
Nombre de pages 16
Mot-clé 23/30454374 DC