22/30437195 DC:2022

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BS IEC 62047-43. Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices Part 43. Test method of electrical characteristics after cyclic bending deformation for flexible electro-mechanical

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Détails

Semiconductor manufacture,Semiconductor technology,Electromechanical storage,Bend testing,Testing methods,Characteristics,Performance characteristics

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité EPL/47 - Electrical
Edité par BSI
Type de document Projet de norme
ICS 31.080.99 : Autres dispositifs à semi-conducteurs
Nombre de pages 18
Mot-clé 22/30437195 DC