20/30406234 DC:2020

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BS IEC 63275-2 Ed.1.0. Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors Part 2. Test bipolar degradation by body diode operating

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24,00 €

Détails

Electronic equipment and components,Semiconductor devices,Semiconductors,Metal oxide semiconductors,Testing methods

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Auteur British Standards Institution (BSI)
Comité EPL/47 - Electrical
Edité par BSI
Type de document Projet de norme
ICS 31.080.01 : Dispositifs à semi-conducteurs en général
31.080.30 : Transistors
31.080.99 : Autres dispositifs à semi-conducteurs
Nombre de pages 11
Produits apparentés 47/2623/CD
Mot-clé 20/30406234 DC