Name | Support | Language | Availability | Edition date | Price | ||
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Paper |
French |
Active |
5/1/2019 |
€72.00 |
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Details
Le présent document a pour objet de décrire un essai d'irradiation aux neutrons qui est réalisé pour déterminer la sensibilité des dispositifs à semiconducteurs à la dégradation par perte d'énergie non ionisante (NIEL, Non-Ionizing Energy Loss) . L'essai décrit dans le présent document s'applique aux circuits intégrés et aux dispositifs discrets à semiconducteurs, et est destiné aux applications des domaines militaire et aérospatial. Il s'agit d'un essai destructif.
Additional Info
Author | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
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Published by | AFNOR |
Document type | Standard |
Theme | Electrotechnologies |
ICS | 31.080.01 : Semiconductor devices in general
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Number of pages | 12 |
Replace | NF EN 60749-17, C96-022-17 (08/2003) |
Weight(kg.) | 0.1204 |
Keyword | NF EN IEC 60749-17 |