NF EN IEC 60749-17, C96-022-17 (05/2019)

NF EN IEC 60749-17, C96-022-17 (05/2019)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17 : neutron irradiation

€72.00

Details

Le présent document a pour objet de décrire un essai d'irradiation aux neutrons qui est réalisé pour déterminer la sensibilité des dispositifs à semiconducteurs à la dégradation par perte d'énergie non ionisante (NIEL, Non-Ionizing Energy Loss) . L'essai décrit dans le présent document s'applique aux circuits intégrés et aux dispositifs discrets à semiconducteurs, et est destiné aux applications des domaines militaire et aérospatial. Il s'agit d'un essai destructif.

Additional Info

Author Association Française de Normalisation (AFNOR)
Published by AFNOR
Document type Standard
Theme Electrotechnologies
ICS 31.080.01 : Semiconductor devices in general
Number of pages 12
Replace NF EN 60749-17, C96-022-17 (08/2003)
Weight(kg.) 0.1204
Keyword NF EN IEC 60749-17