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  • SEMI International Standards – SEMIViews Products

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    01/01/2017 - internet - Anglais - SEMI
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    1 615,00 €

  • SEMI G66-96 (Reapproved 0811)

    Test Method for the Measurement of Water Absorption Characteristics for Semiconductor Plastic Molding Compounds
    09/06/2016 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI S22-0715b

    Safety Guideline for the Electrical Design of Semiconductor Manufacturing Equipment
    01/07/2015 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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    255,00 €

  • SEMI G92-0315

    Specification for Tape Frame Cassette for 450 mm Wafer

    01/03/2015 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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    255,00 €

  • SEMI E10-0814E

    Specification for Definition and Measurement of Equipment Reliability, Availability, and Maintainability (RAM)
    01/08/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI MF1982-0714

    Test Methods for Analyzing Organic Contaminants on Silicon Wafer Surfaces by Thermal Desorption Gas Chromatography
    01/07/2014 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI MS10-0912

    Test Method to Measure Fluid Permeation Through MEMS Packaging Materials
    01/09/2012 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI E142-0211 (Reapproved 1016)

    Specification for Substrate Mapping
    01/02/2011 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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    255,00 €

  • SEMI PV22-2011

    Specification for Silicon Wafers for Use in Photovoltaic Solar Cells
    01/01/2011 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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    127,50 €

  • SEMI MS8-0309 (Reapproved 0915)

    Guide to Evaluating Hermeticity of Microelectromechanical Systems (MEMS) Packages
    01/03/2009 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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    255,00 €

  • SEMI E137-0705 (Reapproved 1111)

    Guide for Final Assembly, Packaging, Transportation, Unpacking, and Relocation of Semiconductor Manufacturing Equipment
    01/07/2005 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G38-0996 (Reapproved 0811)

    Test Method for Still- and Forced-Air Junction-to-Ambient Thermal Resistance Measurements of Integrated Circuit Packages
    01/11/2004 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI D 33 (07/03)

    Measuring Method of Optical Characteristics for Backlight Unit
    01/07/2003 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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    127,50 €

  • SEMI G42-0996 (Reapproved 0811)

    Specification for Thermal Test Board Standardization for Measuring Junction-to-Ambient Thermal Resistance of Semiconductor Packages
    01/09/1996 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G10 (1996)

    Standard Method for Mechanical Measurement of Plastic Package Leadframes
    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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    127,50 €

  • SEMI G32-94 (Reapproved 0811)

    Guideline for Unencapsulated Thermal Test Chip
    01/01/1994 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G51-90 (Reapproved 0811)

    Specification for Plastic Molded (Metric) Quad Flat Pack Leadframes
    01/01/1990 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G9-89

    Specification for Stamped Leadframes for Plastic Molded Dual-in-Line Semiconductor Packages
    01/01/1989 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G16-88

    Specification for Dimensions and Tolerances Used to Manufacture Plastic Chip Carrier Tooling
    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G13-88 (Reapproved 0811)

    Standard Test Method for Expansion Characteristics of Molding Compounds
    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G14-88

    Guideline for Specifying the Dimensions and Tolerances Used to Manufacture Plastic Molded Dip Package Tooling
    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G24-89 (Reapproved 0811)

    Test Method for Measuring the Lead-to-Lead and Loading Capacitance of Package Leads
    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G36-88

    Specification for Dimensions and Tolerances Used to Manufacture Plastic Molded High Density Tab Quad Semiconductor Package Tooling
    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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  • SEMI G37-88

    Specification for Dimensions and Tolerances Used to Manufacture Plastic Molded Small Outline Package Tooling
    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - SEMI
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