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EIA

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  • EIA-198-2-E:1998

    01/01/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Ceramic Dielectric Capacitors Classes I, II, III, and IV Part II: Test Methods
    En savoir plus
    214,20 €

  • EIA RS-217-A:1961

    01/01/1961 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Wound Cut Cores
    En savoir plus
    65,70 €

  • EIA-257:1962

    01/01/1962 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Mercury Warning Label R(1979)
    En savoir plus
    54,00 €

  • EIA-260:1962

    01/01/1962 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Tape-Wound Toroidal Cores R(1983)
    En savoir plus
    62,10 €

  • EIA-268:1963

    01/01/1963 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Infrared-Filter Transmission R(1982)
    En savoir plus
    56,70 €

  • EIA-280-C:1992

    20/04/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Solderless Wrapped Electrical Connections
    En savoir plus
    90,00 €

  • EIA-287:1963

    01/11/1963 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Mercury Content Label
    En savoir plus
    54,00 €

  • EIA-293:1964

    01/01/1964 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Sonic Wire Delay Lines R(1982)
    En savoir plus
    57,60 €

  • EIA JESD 306:1965

    01/05/1965 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Measurement of Small Signal HF, VHF, and UHF Power Gain of Transistors
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JESD 307:1992

    01/01/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Voltage Regulator Diode Noise Voltage Measurement
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JESD 311A:1981

    01/11/1981 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Measurement of Transistor Noise Figure at MF, HF, and VHF
    En savoir plus
    43,20 €

  • EIA JESD 320-A:1992

    01/12/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Conditions for Measurement of Diode Static Parameters
    En savoir plus
    33,30 €

  • EIA-322:1965

    01/01/1965 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Wire-Wound Power-Type Rheostats R(1988)
    En savoir plus
    72,00 €

  • EIA-339:1967

    01/01/1967 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Layer-To-Layer Adhesion of Magnetic Tape, Recommended Test Method R(1974)
    En savoir plus
    56,70 €

  • EIA JESD 340:1967

    01/11/1967 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for the Measurement of CRE
    En savoir plus
    38,70 €

  • EIA-364-44A:1998

    01/03/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-44A Corona Test Procedure for Electrical Connectors
    En savoir plus
    67,50 €

  • EIA-364-54A:1999

    01/05/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-54A Magnetic Permeability Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts, and Sockets
    En savoir plus
    64,80 €

  • EIA-364-79:1998

    01/08/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-79 INSERT BOND STRENGTH TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS
    En savoir plus
    64,80 €

  • EIA-364-85:1996

    01/06/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-85 GENERAL TEST PROCEDURE FOR ASSESSING WEAR AND MECHANICAL DAMAGE TESTING OF CONTACT FINISHES FOR ELECTRICAL CONNECTORS
    En savoir plus
    82,80 €

  • EIA-364-92:1997

    01/04/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-92 Wire Bending Test Procedure for Insulation Displacement Contacts (IDC) for Electrical Connectors
    En savoir plus
    62,10 €

  • EIA-364-94:1997

    01/06/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-94 TRANSVERSE EXTRACTION FORCE TEST PROCEDURE FOR INSULATION DISPLACEMENT CONTACTS (IDC) FOR ELECTRICAL CONNECTORS
    En savoir plus
    62,10 €

  • EIA-364-95:1999

    01/04/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-95 Full Mating and Mating Stability Test Procedure for Electrical Connectors
    En savoir plus
    67,50 €

  • EIA-364-97:1997

    01/06/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-97 HOUSING PANEL RETENTION TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS
    En savoir plus
    62,10 €

  • EIA-364-98:1997

    01/06/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-98 Housing Locking Mechanism Strength Test Procedure for Electrical Connectors
    En savoir plus
    57,60 €

  • EIA-364-102:1998

    01/12/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-102 Rise Time Degradation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems
    En savoir plus
    72,00 €

  • EIA JESD 371:1970

    01/02/1970 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Measurement of Small-Signal VHF-UHF Transistor Short-Circuit Forward Current Transfer Ratio
    En savoir plus
    36,90 €

  • EIA JESD 372:1970

    01/05/1970 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - The Measurement of Small-Signal VHF-UHF Transistor Admittance Parameters
    En savoir plus
    38,70 €

  • EIA JESD 398:1972

    01/07/1972 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Measurement of Small Values of Transistor Capacitance
    En savoir plus
    38,70 €

  • EIA JESD 471:1980

    01/02/1980 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Symbol and Label for Electrostatic Sensitive Devices
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JESD 482-A:1984

    01/08/1984 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - List of Preferred Values for Use on Various Types of Small Signal and Regulator Diodes
    En savoir plus
    41,40 €

  • EIA-498BA00:1990

    01/01/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Blank Detail Specification for Keyboard Switches
    En savoir plus
    64,80 €

  • EIA-535BAAC-A:1998

    01/11/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Fixed Tantalum Chip Capacitor Style 1 Protected (Molded)
    En savoir plus
    70,20 €

  • EIA JESD 353:1968

    01/04/1968 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - The Measurement of Transistor Noise Figure at Frequencies up to 20 kHz by Sinusoidal Signal-Generator Method
    En savoir plus
    36,00 €

  • EIA JESD 354:1968

    01/04/1968 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - The Measurement of Transistor Equivalent Noise Voltage and Equivalent Noise Current at Frequencies of up to 20 kHz
    En savoir plus
    36,00 €

  • EIA-359-A:1985

    01/01/1985 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard Colors for Color Identification and Coding
    En savoir plus
    124,20 €

  • EIA-359-A-1:1988

    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Special Colors
    En savoir plus
    112,50 €

  • EIA-362:1969

    01/01/1969 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Tensile Properties of Magnetic Tape, Recm. Test Method R(1974)
    En savoir plus
    62,10 €

  • EIA-364-05B:1998

    01/05/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-05B Contact Insertion, Release and Removal Force Test Procedure for Electrical Connectors
    En savoir plus
    64,80 €

  • EIA-364-14B:1999

    01/04/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-14B Ozone Exposure Test Procedure for Electrical Connectors
    En savoir plus
    65,70 €

  • EIA JESD 435:1976

    01/04/1976 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for the Measurement of Small-Signal Transistor Scattering Parameters
    En savoir plus
    44,10 €

  • EIA CB-12:1990

    01/01/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Gold Plating Study Test Report
    En savoir plus
    75,60 €

  • EIA CB-11:1986

    01/01/1986 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Surface Mounting of Multilayer Ceramic Chip Capacitors, Guidelines for
    En savoir plus
    99,90 €

  • EIA/TIA-455-15A:1992

    01/03/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP- 15 Altitude/Immersion of Fiber Optic Components
    En savoir plus
    68,40 €

  • EIA/TIA-455-32A:1990

    21/02/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-32 Fiber Optic Circuit Discontinuities
    En savoir plus
    23,94 €

  • EIA/TIA-455-35A:1990

    27/04/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-35 Fiber Optic Component Dust (Fine Sand) Test
    En savoir plus
    21,78 €

  • EIA/TIA-455-42A:1989

    20/10/1989 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-42 Optical Crosstalk in Fiber Optic Components
    En savoir plus
    22,32 €

  • EIA/TIA-455-82B:1992

    01/02/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP 82-B Fluid Penetration Test for Fluid-Blocked Fiber Optic Cable
    En savoir plus
    22,86 €

  • EIA/TIA-455-184:1991

    03/05/1991 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-184 Coupling Proof Overload Test for Fiber Optic Interconnecting Devices
    En savoir plus
    21,78 €

  • EIA/TIA-455-185:1991

    03/05/1991 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-185 Strength of Coupling Mechanism For Fiber Optic Interconnecting Devices
    En savoir plus
    21,78 €

  • EIA/TIA-455-190:1992

    01/03/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-190 Low Air Pressure (High Altitude) Testing of Fiber Optic Components
    En savoir plus
    22,86 €

  • EIA/TIA-559:1989

    01/03/1989 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Single-Mode Fiber Optic System Transmission Design
    En savoir plus
    29,61 €

  • EIA/TIA-559-1:1992

    01/10/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Single-Mode Fiber Optic System Transmission Design
    En savoir plus
    30,69 €

  • EIA/TIA/IS-63:1990

    01/08/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Procedures for Automatic Interworking Between Automode Modems and Modems Conforming to Recommendations V.32, V.22bis, and V.22
    En savoir plus
    20,97 €

  • EIA JEP 65:1967

    01/01/1967 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Verification of Maximum Ratings of Power Transistors, Test Procedures for
    En savoir plus
    46,80 €

  • EIA JEP 69-B:1973

    01/01/1973 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Preferred Lead Configurations for Field-Effect Transistors
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JEP 78:1969

    01/01/1969 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Relative Spectral Response Curves for Semiconductor Infrared Detectors
    En savoir plus
    46,80 €

  • EIA JEP 79:1969

    01/09/1969 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Life Test Methods for Photoconductive Cells
    En savoir plus
    46,80 €

  • EIA JEP 103A:1996

    01/07/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Suggested Product-Documentation Classification and Disclaimers R(2003)
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JEP 110:1988

    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Guidelines for the Measurement of Thermal Resistance of GaAs FETs
    En savoir plus
    38,70 €

  • EIA JEP 115:1989

    01/08/1989 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Power MOSFET Electrical Dose Rate Test Method
    En savoir plus
    36,90 €

  • EIA JEP 116:1991

    01/01/1991 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - CMOS Semicustom Design Guidelines
    En savoir plus
    98,10 €

  • EIA JEP 118:1993

    01/01/1993 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Guidelines for GaAs MMIC and FET Life Testing
    En savoir plus
    43,20 €

  • EIA JEP 123:1995

    01/01/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Guideline for Measurement of Electronic Package Inductance and Capacitance Model Parameters
    En savoir plus
    44,10 €

  • EIA JEP 126:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Guideline for Developing and Documenting Package Electrical Models Derived from Computational Analysis
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JEP 128:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing
    En savoir plus
    36,00 €

  • EIA JEP 132:1998

    01/07/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Process Characterization Guideline
    En savoir plus
    53,10 €

  • EIA JEP 134:1998

    01/09/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Guidelines for Preparing Customer-Supplied Background Information Relating to a Semiconductor-Device Failure Analysis
    En savoir plus
    40,50 €

  • EIA JESD 1:1982

    01/01/1982 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Leadless Chip Carrier Pinouts Standardized for Linear's
    En savoir plus
    36,90 €

  • EIA JESD 2:1982

    01/01/1982 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Digital Bipolar Pinouts for Chip Carriers
    En savoir plus
    36,90 €

  • EIA JESD 3-C:1994

    01/01/1994 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard Data Transfer Format Between Data Preparation System and Programmable Logic Device Programmer
    En savoir plus
    54,90 €

  • EIA JESD 4:1983

    01/11/1983 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Definition of External Clearance and Creepage Distances of Discrete Semiconductor Packages for Thyristors and Rectifier Diodes
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JESD 5:1982

    01/02/1982 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Mesurement of Temperature Coefficient of Voltage Regulator Diodes
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JESD 6:1967

    01/02/1967 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Measurement of Small Values of Transistor Capacitance
    En savoir plus
    42,30 €

  • EIA JESD 7-A:1986

    01/01/1986 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - 54/74HCXXXX and 54/74HCTXXXX High Speed CMOS Devices, Description of
    En savoir plus
    98,10 €

  • EIA JESD 8-2:1993

    01/01/1993 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Operating Voltages and Interface Levels for Low Voltage Emitter-Coupled Logic (ECL) Integrated Circuits
    En savoir plus
    36,00 €

  • EIA JESD 8-4:1993

    01/01/1993 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Center-Tap-Terminated (CTT) Low-Level, High- Speed Interface Standard for Digital Integrated Circuits
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JESD 8-6:1995

    01/01/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - High Speed Transceiver Logic (HSTL) A 1.5V Output Buffer Supply Voltage Based Interface Standard for Digital Integrated Circuits
    En savoir plus
    43,20 €

  • EIA JESD 8-8:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Stub Series Terminated Logic for 3.3 Volts (SSTL-3)
    En savoir plus
    42,30 €

  • EIA JESD 10:1976

    01/01/1976 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Low Frequency Power Transistors
    En savoir plus
    132,30 €

  • EIA JESD 11:1984

    01/01/1984 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Chip Carrier Pinouts Standardized for CMOS 4000, HC and HCT Series of Logic Circuits
    En savoir plus
    36,90 €

  • EIA JESD 12:1985

    01/01/1985 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Gate Array Benchmark Set
    En savoir plus
    38,70 €

  • EIA JESD 12-1B:1993

    01/01/1993 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Terms and Definitions for Gate Arrays and Cell-Based Digital Integrated Circuits
    En savoir plus
    43,20 €

  • EIA JESD 12-2:1986

    01/01/1986 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Cell-Based Integrated Circuit Benchmark Set
    En savoir plus
    54,90 €

  • EIA JESD 12-3:1986

    01/01/1986 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - CMOS Gate Array Macrocell Standard
    En savoir plus
    42,30 €

  • EIA JESD 12-4:1987

    01/01/1987 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Method of Specification of Performance Parameters for CMOS Semicustom Integrated Circuits
    En savoir plus
    43,20 €

  • EIA JESD 12-5:1988

    01/01/1988 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Design for Testability Guidelines
    En savoir plus
    98,10 €

  • EIA JESD 12-6:1991

    01/01/1991 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Interface Standard for Semicustom Integrated Circuits
    En savoir plus
    38,70 €

  • EIA JESD 13-B:1980

    01/01/1980 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Description of 'B' Series CMOS Devices, Spec. for
    En savoir plus
    56,70 €

  • EIA JESD 14:1986

    01/11/1986 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Semiconductor Power Control Modules
    En savoir plus
    42,30 €

  • EIA JESD 16-A:1995

    01/04/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Assessment of Average Outgoing Quality Levels in Parts Per Million (PPM)
    En savoir plus
    67,50 €

  • EIA JESD 18-A:1993

    01/01/1993 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Description of Fast CMOS TTL Compatible Logic
    En savoir plus
    56,70 €

  • EIA JESD 20:1990

    01/01/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Description of 54/74ACXXXXX and 54/74ACTXXXXX Advanced High-Speed CMOS Devices
    En savoir plus
    132,30 €

  • EIA JESD 24:1985

    01/01/1985 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Power MOSFET's
    En savoir plus
    63,90 €

  • EIA JESD 24-1:1989

    01/10/1989 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Method for Measurement of Power Device Turn-Off Switching Loss
    En savoir plus
    36,90 €

  • EIA JESD 24-2:1991

    01/01/1991 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Gate Charge Test Method
    En savoir plus
    36,90 €

  • EIA JESD 24-3:1990

    01/11/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Thermal Impedance Measurements for Vertical Power MOSFETs (Delta Source-Drain Voltage Method)
    En savoir plus
    42,30 €

  • EIA JESD 24-4:1990

    01/11/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Thermal Impedance Measurements for Bipolar Transistors (Delta Base- Emitter Voltage Method)
    En savoir plus
    42,30 €

  • EIA JESD 24-5:1990

    01/08/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Single Pulse Unclamped Inductive Switching (UIS) Avalanche Test Method
    En savoir plus
    34,20 €

  • EIA JESD 24-6:1991

    01/10/1991 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Thermal Impedance Measurements for Insulated Gate Bipolar Transistors
    En savoir plus
    42,30 €

  • EIA JESD 24-7:1992

    01/08/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Commutating Diode Safe Operating Area Test Procedure for Measuring DV/DT During Reverse Recovery of Power Transistors
    En savoir plus
    36,00 €

  • EIA JESD 24-8:1992

    01/08/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Method for Repetitive Inductive Load Avalanche Switching
    En savoir plus
    36,00 €

  • EIA JESD 24-9:1992

    01/08/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Short Circuit Withstand Time Test Method
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    36,00 €

  • EIA JESD 24-10:1994

    01/08/1994 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Test Method for Measurement of Reverse Recovery Time trr for Power MOSFET Drain-Source Diodes
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  • EIA JESD 24-11:1996

    01/08/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Power MOSFET Equivalent Series Gate Resistance Test Method
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  • EIA JESD 25:1972

    01/11/1972 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Measurement of Small-Signal Transistor Scattering Parameters
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  • EIA JESD 32:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for China Description File
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  • EIA JESD 35-1:1995

    01/09/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - General Guidelines for Designing Test Structures for the Wafer-Level Testing of Thin Dielectrics
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  • EIA JESD 35-2:1996

    01/02/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Test Criteria for the Wafer-Level Testing of Thin Dielectrics
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  • EIA JESD 36:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Description of Low-Voltage TTL-Compatible, 5 V-Tolerant CMOS Logic Devices
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    40,50 €

  • EIA JESD 38:1995

    01/01/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Failure Analysis Report Format
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  • EIA JESD 51:1995

    01/01/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages (Single Semiconductor Device)
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    36,00 €

  • EIA JESD 51-1:1995

    01/01/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Integrated Circuit Thermal Measurement Method - Electrical Test Method (Single Semiconductor Device)
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    70,20 €

  • EIA JESD 51-3:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Low Effective Thermal Conductivity Test Board for Leaded Surface Mount Packages
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    36,90 €

  • EIA JESD 51-4:1997

    01/02/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Thermal Test Chip Guideline (Wire Bond Type Chip)
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    40,50 €

  • EIA JESD 51-5:1999

    01/02/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Extension of Thermal Test Board Standards for Packages with Direct Thermal Attachment Mechanisms
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    34,20 €

  • EIA JESD 51-7:1999

    01/02/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - High Effective Thermal Conductivity Test Board for Leaded Surface Mount Packages
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    36,90 €

  • EIA JESD 52:1995

    01/01/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Description of Low Voltage TTL-Compatible CMOS Logic Devices
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    40,50 €

  • EIA JESD 54:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Description of 54/74ABTXXX and 74BCXXX TTL-Compatibility BiCMOS Logic Devices
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  • EIA JESD 55:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Description of Low-Voltage TTL-Compatible BiCMOS Logic Devices
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  • EIA JESD 57:1996

    01/01/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Test Procedures for the Measurement of Single-Event Effects in Semiconductor Devices from Heavy Ion Irradiation
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  • EIA JESD 59:1997

    01/06/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Bond Wire Modeling Standard
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  • EIA JESD 63:1998

    01/02/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard Method for Calculating the Electromigration Model Parameters for Current Density and Temperature
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    54,90 €

  • EIA JESD 70:1999

    01/06/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - 2.5 V BiCMOS Logic Device Family Specification with 5 V Tolerant Inputs and Outputs
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  • EIA JESD 73:1999

    01/06/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Description of 5 V Bus Switch Devices with TTL-Compatible Control Inputs
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  • EIA/TIA-455-131:1997

    20/08/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-131 Measurement of Optical Fiber Ribbon Residual Twist
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  • EIA/TIA-4920000-B:1997

    01/11/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Generic Specification for Optical Fibers
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  • EIA/TIA-232-F:1997

    01/10/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Interface Between Data Terminal Equipment and Data Circuit- Terminating Equipment Employing Serial Binary Data Interchange
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    32,58 €

  • EIA/TIA-404-B:1996

    01/03/1996 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Start-Stop Signal Quality for Non-Synchronous Data Terminal Equipment
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  • EIA/TIA-455-54B:1998

    01/08/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP- 54-B Mode Scrambler Requirements for Overfilled Launching Conditions to Multimode Fibers
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  • EIA/TIA-455-57-B:1994

    12/05/1994 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-57 Preparation and Examination of Optical Fiber Endface for Testing Purposes
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  • EIA/TIA-455-64:1998

    01/03/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-64 Procedure for Measuring Radiation-Induced Attenuation in Optical Fibers and Optical Cables
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    28,80 €

  • EIA/TIA-455-72:1997

    01/10/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP- 72 Procedure for Assessing Temperature and Humidity Cycling Exposure Effects on Optical Characteristics of Optical Fibers
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  • EIA/TIA-455-85-A:1992

    26/05/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-85 Fiber Optic Cable Twist Test
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  • EIA/TIA-455-89-B:1998

    01/07/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-89 Optical Fiber Cable Jacket Elongation and Tensile Strength
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  • EIA/TIA-455-192:1999

    13/05/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-192 H-Parameter Test Method for Polarization-Maintaining Optical Fiber
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  • EIA/TIA-485-A:1998

    01/03/1998 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Electrical Characteristics of Generators and Receivers for Use in Balanced Digital Multipoint Systems
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  • EIA/TIA-526:1992

    01/09/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard Test Procedures for Fiber Optic Systems
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  • EIA/TIA-526-11:1991

    01/12/1991 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - OFSTP-11 Measurement of Single-Reflection Power Penalty for Fiber Optic Terminal Equipment
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  • EIA/TIA-561:1990

    20/03/1990 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Simple 8-Position Non-Synchronous Interface Between Data Terminal Equipment and Data Circuit- Terminating Equipment Employing Serial Binary Data Interchange
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  • EIA/TIA-562:1989

    27/10/1989 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Electrical Characteristics for an Unbalanced Digital Interface
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  • EIA/TIA-590-A:1997

    01/01/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Physical Location and Protection of Below Ground Fiber Optic Cable Plant
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    26,10 €

  • EIA/TIA-596:1992

    26/10/1992 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Network Channel Terminating Equipment for Public Switched Digital Service
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  • EIA/TIA-612:1993

    01/12/1993 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Electrical Characteristics for an Interface at Data Signaling Rates up to 52 Mbit/s
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  • EIA/TIA-613:1993

    01/11/1993 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - High Speed Serial Interface for Data Terminal Equipment and Data Circuit- Terminating Equipment
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  • EIA/TIA-687:1997

    01/10/1997 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Medium Speed Interface for Data Terminal Equipment and Data Circuit Terminating Equipment
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  • EIA/TIA-6200000:1995

    01/05/1995 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Generic Specification for Passive Optical Branching Devices
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  • EIA/TIA-455-193:1999

    12/05/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-193 Polarization Crosstalk Method for Polarization- Maintaining Optical Fiber and Components
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  • EIA-364-99:1999

    01/06/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-99 Gage Location and Retention Test Procedure for Electrical Connectors
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  • EIA JEP 138:1999

    01/08/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - User Guidelines for IR Thermal Imaging Determination of Die Temperature
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    01/08/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard Test and Programming Language (STAPL)
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    01/02/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-103 Propagation Delay Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems
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  • EIA JESD 66:1999

    01/11/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Transient Voltage Suppressor Standard for Thyristor Surge Protective Device Rating Verification and Characteristic Testing
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  • EIA JESD 75:1999

    01/11/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Ball Grid Array Pinouts Standardized for 32-Bit Logic Functions
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    01/11/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Standard for Description of 2.5 V CMOS Logic Devices
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  • EIA/TIA-455-141:1999

    10/09/1999 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - FOTP-141 Twist Test for Optical Fiber Ribbons
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  • EIA-364-90:2000

    01/01/2000 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-90 Crosstalk Ratio Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnection Systems
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  • EIA-364-108:2000

    01/07/2000 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-108 Impedance, Reflection Coefficient, Return Loss, and VSWR Measured in the Time and Frequency Domain Test Procedure for Electrical Connectors, Cable Assemblies or Interconnection Systems
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  • EIA-364-66A:2000

    01/05/2000 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - TP-66A EMI Shielding Effectiveness Test Procedure for Electrical Connectors
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  • EIA JEP 120-A:2000

    01/05/2000 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Index of Terms and Abbreviations Defined in JEDEC Publications
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  • EIA JESD 51-9:2000

    01/07/2000 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Test Boards for Area Array Surface Mount Package Thermal Measurements
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    01/07/2000 - PDF sécurisé - Anglais - Etats-Unis - EIA - - Definition of CDCV857 PLL Clock Driver for Registered DDR DIMM Applications
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  • EIA/TIA-894:2005

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