Appelez le +33 (1) 40 02 03 05

AEC

36 article(s)

Par ordre croissant
par page

Liste  Grille 

  • AEC Q104:2017

    Failure mechanism based stress test qualification for multichip modules (MCM) in automotive applications
    14/09/2017 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q102:2017

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Optoelectronic Semiconductors in Automotive Applications
    15/03/2017 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q006 REV A:2016


    01/07/2016 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC QTP:2014

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Q100 Qualification Test Plan
    11/12/2014 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100 Rev H:2014

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits
    11/09/2014 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC CDC:2014

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Appendix 2 - Q100 Certification of Design, Construction and Qualification
    11/09/2014 - fichier word - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q101 Rev D1:2013

    Failure Mechanism based Stress Test Qualification for Discrete Semiconductors in Automotive Applications
    06/09/2013 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-002 Rev E:2013

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 2 - Human Body Model Electrostatic Discharge Test
    20/08/2013 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-011 Rev C1:2013

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits - Attachment 11: Charged Device Model (CDM) Electrostatic Discharge Test
    12/03/2013 - PDF - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q003 Rev A:2013

    Guideline for Characterization of Integrated Circuits
    18/02/2013 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-004 Rev D:2012

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits - Attachment 4: IC Latch-Up Test
    07/08/2012 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q002 Rev B:2012

    Guidelines for Statistical Yield Analysis
    12/01/2012 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-005 Rev D1:2012

    Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 5 - Non-Volatile Memory Program/Erase Endurance, Data Retention, and Operational Life Test
    09/01/2012 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q001 Rev D:2011

    Guidelines for Part Average Testing
    09/12/2011 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Charter Rev F-2011

    Automotive Electronics Council - Component Technical Committee Charter
    18/03/2011 - PDF - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200-001 Rev B:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 1: Flame retardance test
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200-002 Rev B:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 2: Human body model electrostatic discharge test
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200-003 Rev B:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 3: Beam load (break strength) test
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200-005 Rev A:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 5: Board flex test
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200-006 Rev A:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 6: Terminal strength (SMD) / Shear stress test
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200-007 Rev A:2010

    Stress test qualification for passive components - Attachment 7: Voltage surge test
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200 Rev D:2010

    Stress test qualification for passive components
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q005 Rev A:2010

    PB-free test requirements
    01/06/2010 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-007 Rev B:2007

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 7 - Fault Simulation and Fault Grading
    18/09/2007 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-009 Rev B:2007

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 9 - Electrical Distributions Assessment
    27/08/2007 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-012:2006

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 12 - Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems
    14/09/2006 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q101-006:2006

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors; Attachment 6 - Short Circuit Reliability Characterization of Smart Power Devices for 12V Systems
    14/09/2006 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q004 -2006

    Zero Defects Guideline
    31/08/2006 - PDF - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q101-003 Rev A:2005

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors; Attachment 3 - Wire Bond Shear Test
    18/07/2005 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q101-001 Rev A:2005

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors; Attachment 1 - Human Body Model (HBM) Electrostatic Discharge (ESD) Test
    18/07/2005 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q101-005:2005

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors; Attachment 5 - Capacitive Discharge Model (CDM) Electrostatic Discharge (ESD) Test
    18/07/2005 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-008 Rev A:2003

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 8 - Early Life Failure Rate (ELFR)
    18/07/2003 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-010 Rev A:2003

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 10 - Solder Ball Shear Test
    18/07/2003 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q200-004 Rev A:2000

    Stress test qualification for passive components - Attachment 4: Measurement procedures for resettable fuses
    01/06/2000 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q100-001 Rev C:1998

    Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Integrated Circuits; Attachment 1 - Wire Bond Shear Test
    08/10/1998 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

  • AEC Q101-004:1996

    Stress Test Qualification for Automotive Grade Discrete Semiconductors; Attachment 4 - Miscellaneous Test Methods
    15/05/1996 - PDF sécurisé - Anglais - AEC
    En savoir plus
    25,00 €

36 article(s)

Par ordre croissant
par page

Liste  Grille